X荧光光谱仪

X荧光光谱仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-07-02 08:49:03
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深圳市科晶智达科技有限公司

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产品简介

功能特点快速检测:10-30秒可显示测量点检测数据(10分钟可以检测完成1个pocket4角残余)多点自动检测无损测试

详细介绍

功能特点
  • 快速检测:10-30秒可显示测量点检测数据(10分钟可以检测完成 1个pocket4角残余)
  • 多点自动检测
  • 无损测试,可留样重复检测
  • 高精度检测
  • 设备操作方便,检测稳定,可标准化作业
技术参数
产品类型 能量色散X荧光光谱分析设备
仪器尺寸 618*525*490mm(L*W*H)
测量原理 能量色散X射线分析,样品在X射线照射下发出二次射线,通过探测器收集二次射线,利用分析软件对样品进行定性定量分析。
X射线光管 50kV,1mA 钼、铑、铑钯(高配微焦钼靶); 工作时间>18,000小时
检测系统 SDD探测器,能量分辨率125±5eV(高频快速扑捉激发的金属二次射线)
准直器 0.2,0.3,0.5,1,4,4mm(可选不同规格,精准定位)
样品台可移动范围 前后左右各80mm、高度90mm
暂无内容
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