日本Otsuka膜厚测量用多通道光谱仪@2023资料已更新推荐

日本Otsuka膜厚测量用多通道光谱仪@2023资料已更新推荐

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2024-05-30 10:55:33
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产品简介

简要描述: 光谱仪(MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700) 提供丰富选配套件以及客制化光纤, 可依据安装现场需求评估设计,是一套可灵活架设于各种环境下的佳即时测量系统

详细介绍

本公司3月23日9点03分报道:日本Otsuka膜厚测量用多通道光谱仪@2023资料已更新推荐
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 分光光谱仪种类

膜厚测量

半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿状薄膜涂布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能性薄膜、包裝膜

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膜厚测量(分光光谱仪 + 显微镜)

半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿状薄膜塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能性薄膜、包装膜。

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影印機感光鼓膜厚度量測

半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能能性薄膜、包装膜

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LB膜测量

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蒸馏膜测量

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多点膜厚测量

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深圳华普通用科技有限公司,业提供实验室分析测试仪器和自动化方案。公司分为仪器代理和自主研发两大业务板块。代理业务是和仪器公司合作,从事设备代理以及售后服务。自主研发业务是综合运用自动化、机器人、计算机视觉以及人工智能等技术,为客户提供标准化仪器和自动化解决方案,降低实验室人员工作强度,提升工作效率,同时提高工作质量。

 

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