跟着测量仪器的需求也越来越广泛，只需触及精细标准要求都需求通过标准量测设备进行验证产品的研发加工精度是否合格，在这过程中质量检测人员经常会遇到二次元测量仪，2.5次元测量仪，等设备的概念，如刚接触这些概念很难真实的理解差异。下面小编就来给我们讲解下二次元形象测量仪与2.5次元测量仪的差异：

　　以线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度，运用机械测头进行接触测量的光学长度测量东西。测长机具有能在3个坐标内移动和2个坐标内翻滚的可调工作台，还带有不同测头和附件，常用于检定大标准量块和测量多种工件的内、外标准。

　　一：测长机原理

　　1.标准器：选用高精度光栅系统作为反应X轴向间隔的标准器；

　　2.测量原理：运用头座的测力并运用测帽球面（针对平面物体测量-如量块，校正杆，千分尺，卡规等）接触被测平面，五轴工作台的水平方向起浮，使得尾座测帽球面与被测件另一平面接触；然后测得两测帽球面顶点间的间隔；

　　运用头座的测力并运用平面测帽的平面（针对圆周外径测量，如光面塞规，针规及棒材）接触被测平面，五轴工作台的水平方向起浮，使得尾座测帽球面与被测件另一平面接触；然后测得两测帽平面间的间隔；

　　运用头座测力并运用平面测帽接触三针使三针与螺纹塞规螺纹槽中径截面点接触，得到平面测帽间的间隔，并加上三针针径，运用三针法核算得到螺纹单一中径；

　　运用T型测球与螺纹环规内螺纹槽中径截面点分别接触，得到一组螺纹中截面中径数据，并通过三针法核算得到螺纹单一中径；

　　3.数据修改：通过测力修改系统及温度修改系统将X轴向光栅反应的数据进行修改得到正确的X轴标准长度数值；

　　4.软件标准及数据核算：软件系统内置多个标准，并通过对应标准的数据核算得到检定所需数据（如螺纹的单一中径，量块的标准长度，光面规的真值等）。