图1，超痕量六价铬分析仪

超痕量六价铬分析仪采用国际上广泛认可的柱后衍生—离子色谱法（IC-UV/VIS），即：样品中的六价铬经过离子色谱分离后与衍生试剂（二苯卡巴肼）混合，利用六价铬具有强氧化性，在酸性环境下氧化二苯卡巴肼并且络合成紫红色的络合物，在540nm处测定它的光吸收。PRIN-CEN的超痕量六价铬分析仪在业界中首先采用双离子色谱泵系统，即柱后衍生泵也是高性能的离子色谱泵，从而降低了输液脉冲、降低检出限；的TLD检测器，大幅度提高灵敏度和抗力。

图2，超痕量六价铬分析仪的工作原理图

双离子色谱泵模块

图3，双离子色谱泵模块

专门设计的双离子色谱泵模块，将色谱分离和柱后衍生合二为一。该模块包含两个独立控制的双柱塞串联式往复泵，一个用于输送流动相，另一个用于输送柱后衍生溶液。模块采用全PEEK流路，适应宽广的PH范围，兼容强酸、强碱的流动相和样品基体。

泵是离子色谱仪的心脏。泵的性能直接影响基线噪声、长期稳定性、检出限等仪器主要指标。该泵采用了高性能的双柱塞串联式往复泵，具有压力脉动小、死体积小的优点。为了性能，柱后衍生上也采用同样高性能的双柱塞串联式往复泵，降低了输液脉冲、降低检出限。

技术指标：
1.类型：包含两个独立控制的双柱塞串联式往复泵，微处理器电子压力脉动控制，无需阻尼器和辅助气。
2.流路介质：PEEK。
3.流速范围：0.01 ～ 9.99mL/min;
4.流量精度：<0.1%;
5.压力范围：0 ～ 5000Psi;
6.压力脉动：<0.1%;
7.具有柱塞杆清洗功能;
8.自带控制面板，兼容性强，可以和任何品牌的ICPMS、ICP-OES、UV-VIS组成联用

TLD检测器

TLD检测器(Trace Light Detector)是从传统的二极管阵列检测器改良而来。二极管阵列检测器（DAD）和紫外/可见检测器(UV/VIS)都是液相色谱（包括离子色谱）中常见的光学检测器。二极管阵列检测器可以实时扫描全光谱吸收图，因此可以判断色谱峰中是否有干扰存在，这是紫外/可见检测器所不具备的优势；特别是对于基体复杂、有潜在光谱干扰（例如有颜色的）的样品来说，二极管阵列检测器具备更强的抗力。然而，二极管阵列检测器需要用到较复杂的光谱处理软件，使用难度较大；另外由于光路设计的缘故使得噪声较大，检出限不尽人意。我们充分了解痕量六价铬分析项目对仪器的要求，同时深入研究了二极管阵列检测器光路设计，并且按照痕量六价铬分析的要求对硬件和软件都进行了改良，从而推出了Trace Light Detector。 它将实时干扰扣除技术和高强度光源/长光程流通池技术相融合（长光程流通池是CEN/TC 52/WG 5/TG 2 N 162，EN 71-3 - Proposal for Chromium VI test method中推荐的配置）。实践证明Trace Light Detector具有出色的灵敏度和的抗力。

图4，TLD检测器

图5，检测器灵敏度对比。

将TLD检测器和某国际品牌的IC-UV/VIS串联，左图为IC-UV/VIS的色谱图，右图为TLD检测器的色谱图，TLD检测器的灵敏度是前者的5倍以上（痕量六价铬分析仪的灵敏度还可以再提高1倍，分析时间缩短为3分钟）。

EAS-1 自动进样器

对于IC和HPLC来说，精确的进样量是获得可靠结果的必要条件。自动进样器避免了人为误差，并且可以实现无人看守的自动化分析，因此成为批量分析的必要选项。PRIN-CEN的EAS-1自动进样器可以随意调整进样量（软件设定），适应各种样品；具有预洗针和预取样功能，既降低了交叉污染，又节省了两次进样间的等待时间，真正实现高通量分析。

图6，EAS-1 自动进样器

技术指标：
1.类型：X Y Z三维电机驱动的自动进样器；
2.定量方式：可选择满环进样（由定量环定量）和部分环进样（由内置的高精度注射泵定量）；
3.样品位数：120位（2mL样品瓶）；
4.进样量：0.1～300 μL（标配），1～2000 μL（选配），由软件控制连续可调；
5.进样次数：1～99次；
6.清洗：可设定进样前/后洗针，清洗次数1～99次。预洗针功能，缩短无效等待时间；
7.重复性：<0.5%；
8.交叉污染：<0.02%；
9.控制面板：彩色液晶显示屏，可独立控制，扩展与其他设备联用时的兼容性；
10.可选多通道进样，最多可为三台IC/HPLC进样；
11.可选样品浓缩功能；

“只需水”的六价铬分析包

ONLY WATER KITTM真正做到：开箱即用，只需加水。专门为六价铬分析而开发了一系列的色谱柱，包括用于去除干扰基体柱、浓缩柱、高效分离柱和快速分离柱等等。可以根据用户的需要做出灵活的组合。

图7， ONLY WATER KIT系列色谱柱

痕量分析对试剂要求很高，配置过程也容易带入污染。我们提供专为六价铬分析设计的试剂盒，包括浓缩的流动相、衍生试剂、样品前处理试剂等等。用户只需用超纯水稀释，即可上机使用，确保操作、效果好。

图8， ONLY WATER KIT 系列试剂盒

对于常见的痕量六价铬分析项目，例如玩具/皮革/水/纺织品/空气颗粒物等样品类型中的六价铬分析，我们已经有完善的方法，并且做成了软件包，包括可植入软件的分析方法、SOP（标准操作规程）以及相关培训资料，真正做到开箱即用。软件的使用非常简单，点击“运行序列”，一键完成。

图9，软件界面，一键完成批量分析。

快速！灵敏！可靠！

图10，空白中加标0.1ppb六价铬的分析报告。

图11，0.2ppb六价铬的7次重复测定色谱图和数据。

图10是空白中加标0.1ppb六价铬的分析报告，图11是0.2ppb的六价铬重复测定7次的色谱图和测定数据。图中可见：

1，六价铬在2min出峰仍能达到基线分离。样品分析时间仅需3分钟，实现了快速分析。
2，六价铬峰高7.56mAU，灵敏度比传统的IC-UV/VIS高出十倍以上。

保留时间、峰高、峰面积均具有很好的重复性，加标回收率很好，显示本方法可靠性高。

的抗力，适应各种复杂基体的样品

图12，各种深色样品，不需脱色，直接上机测试。

各样品（图10）的色谱图叠加，可见颜色不造成干扰。
注意，其中的4个样品加标了0.2ppb的六价铬。

基体干扰是传统的IC-UV/VIS难以分析复杂基体样品的原因。某些样品，例如玩具（测试标准EN71-3:2013）、皮革（测试标准ISO-17075）、纺织品（测试标准ISO-17075）、空气颗粒物（测试标准GB3095-2012）等等，在它们的萃取液中会存在较深的颜色、较高浓度的金属离子等基体，容易造成色谱图中的鬼峰、毛刺、鼓包等，从而干扰IC-UV/VIS的分析结果。为了避免或者改善这种情况，传统的IC-UV/VIS往往不能直接分析，而是需要先将样品过各种固相萃取柱（例如RP柱、Na柱等等），以便去除干扰基体，但这就大大增加了运营成本、时间消耗，提高了操作的难度，并且有污染和回收率低的风险。得益于TLD检测器的抗力，PRIN-CEN的超痕量六价铬分析仪无需进行脱色或其他去除基体的处理，直接进样分析，简便易用而且消耗小、节约成本，同时可靠性更高。请看图12和图13的分析实例：

灵活的拓展功能，实现多种联机方式.

超痕量六价铬分析仪可以通过增加分析包拓展到亚硝酸盐、溴酸盐等分析项目，也可以作为一立的离子色谱仪（IC）与ICPMS或者ICP-OES组成IC-ICPMS或者IC-ICP-OES联机，适用于Cr、As、Hg、Se、Br、Sn、Fe、Mn等多种元素的形态分析。

与ICPMS组成IC-ICPMS联机 与ICP-OES组成IC-ICP-OES联机