美国达高特 ZX-3/5/5DL 测厚仪
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美国达高特 ZX-3/5/5DL 测厚仪

美国达高特 ZX-3/5/5DL 测厚仪

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具体成交价以合同协议为准
2023-01-11 09:32:33
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武汉倍斯特仪器设备有限公司

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产品简介

ZX-3/ 5/5DL测厚仪 ZX-3/5/5/DL采用超声反射技术可以用单面测量法快速、准确地测量物体的壁厚

详细介绍




ZX-3/ 5/5DL测厚仪
ZX-3/5/5/DL 采用超声反射技术可以用单面测量法快速、准确地测量物体的壁厚,比传统的游标卡尺等壁厚测量方式更快捷方便,适用范围也更广


特点:

测量钢、铸铁、塑料、玻璃、铝、铜等材料的厚度

120MHz FPGA采样率,150V方波脉冲发生器

增益可调节(40-52dB)

增益步进间距3dB(vlow, low, med, high, vhi 五档)

手动或自动调零

低温型(-30℃)LCD显示屏

USB-C型通讯接口:输出数据到计算机(仅ZX-5/5DL)

USB转串口功能,可选RS232或蓝牙模块(仅ZX-5)

IP65防护等级

扫查测量:自动找出被测材料扫查区域内的zui 薄值

参数:

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