R&S®RTE 系列示波器提供*一体化的多域测试解决方案，一台仪器就能胜任时域、频谱、协议和逻辑分析多域测量功能。它提供功能一致、操作简便的标准化用户界面，所有分析功能都与时间相关联，深得用户好评。下面的例子清晰显示这些优点。嵌入式设备上偶发的故障常常由来自于内部电源的干扰。R&S®RTE 系列示波器可以根据处理器和接口活动，在时域和频域分析电源质量。这种一体化解决方案即使面对复杂设计也能快速检测到错误。

性能出色、使用方便的 R&S®RTE 示波器
示波器具有 200 MHz至2GHz 的带宽范围和优异的性能参数：

❙ 采样率为 5 GS/s，存储器深度为 200 Msample， 可精确采集长信号序列
❙ 波形捕获率大于每秒 100 万个波形，适合快速发现信号错误
❙ 超低噪音前端和16 位垂直分辨率，在高分辨率模式下显示精确结果
❙ 高精度数字触发系统几乎没有任何抖动，适合针对小信号细节进行实时触发

提供的标配功能有 Quick Meas一键测量功能、快速 MASK模板测试、强大的频谱分析、History 历史回放功能以及 77 种自动测量功能等。由于是在罗德与施瓦茨公司 ASIC 中基于硬件实现各种测量功能，该示波器可以迅速获得测量结果。结果以大量波形为基础，提供统计结论信息。

R&S®RTE 示波器可实现用于复杂分析的专用解决方案，包括适用于串行协议的触发和解码选件和电源分析选件。混合信号选件提供了16 个数字通道，用来分析嵌入式设计中的逻辑元件。

功能强大的R&S®RTE 示波器配有高分辨率10.4" XGA 触摸屏，使用十分方便。

R&S@RTE示波器提供全面集成的多域测试解决方案，包括时域、频域、协议和逻辑分析功能。多合一测试方案即使在针对复杂设计时也可以快速检测信号故障。

从嵌入式设计开发、电力电子分析到一般调试，R&S®RTE 示波器可用来快速、精确和方便地完成日常测量与测试工作。

频谱分析功能介绍：

❙ 多通道频谱分析
❙ 显示功率和频谱随时间的变化
❙ 对数坐标显示频谱
❙ 采用自动峰值列表获取快速结果
❙ 模拟前端具有高动态范围和低本底噪声，射频性能极其优异
❙ 具有众多分析功能的时频域相关分析能力

频域中的模板测试
EMI 调试：
产品开发期间的电磁干扰测试
与 R&S®HZ-15 近场探头配合使用， R&S®RTE 示波器非常适合产品开发过程中的EMI测试。
❙ 高输入灵敏度和动态范围，能够可靠检测无用辐射
❙ 具有强大的 FFT 功能，提供有关频谱成分的频率信息
❙ 选通 FFT 便于频谱与时间之间的关联
❙ 通过频域的模板测试，有目标地分析零星辐射

R&S®RTE 示波器是一种功能强大的EMI调试工具。其具有很高动态范围和输入灵敏度（全测量带宽下 500 μV/ div），能够检测出微弱的辐射。强大的 FFT功能具有易操作性、高波形捕获率以及根据发生频次用不同颜色显示频谱等功能，使其非常适合在频域中进行所需分析。与近场探头结合使用，用户可快速发现并分析 EMI 问题。


名称 型号 订货号
200 MHz，5 GS/s，50/100 M 样点，2 通道 R&S®RTE1022 1326.2000.22
200 MHz，5 GS/s，50/200 M 样点，4 通道 R&S®RTE1024 1326.2000.24
350 MHz，5 GS/s，50/100 M 样点，2 通道 R&S®RTE1032 1326.2000.32
350 MHz，5 GS/s，50/200 样点，4 通道 R&S®RTE1034 1326.2000.34
500 MHz，5 GS/s，50/100 M 样点，2 通道 R&S®RTE1052 1326.2000.52
500 MHz，5 GS/s，50/200 M 样点，4 通道 R&S®RTE1054 1326.2000.54
1 GHz，5 GS/s，50/100 M 样点，2 通道 R&S®RTE1102 1326.2000.62
1 GHz，5 GS/s，50/200 M 样点，4 通道 R&S®RTE1104 1326.2000.64
1.5 GHz，5 GS/s，50/100 M 样点，2 通道 R&S®RTE1152 1326.2000.72
1.5 GHz，5 GS/s，50/200 M 样点，4 通道 R&S®RTE1154 1326.2000.74
2 GHz，5 GS/s，50/100 M 样点，2 通道 R&S®RTE1202 1326.2000.82
2 GHz，5 GS/s，50/200 M 样点，4 通道 R&S®RTE1204 1326.2000.84

基本单元（包括标准附件：每通道一支：R&S®RT-ZP10、附件包、快速入门指南、手册光盘、电源线） 数字示波器