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一、产品介绍
该款紫外辐照计采用 SMT 贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
二、产品参数
1、波长范围及峰值波长:(以下两种选其一)
(1)UV-340 探头:λ:(315~370)nm;λP=340nm
*(2)UV-313 探头:λ:(290~340)nm;λP=313nm辐照度测量范围:(0.1~199.9×103) μW/cm2
2、紫外带外区杂光:UV313:小于 0.05%
UV340:小于 0.05%
3、相对示值误差:±8%(相对与 NIM 标准)
4、余弦特性(方向性响应)误差:±10%
5、线性误差:±1%
6、换档误差:±1%
7、短期不稳定性:±1%(开机 30min 后)
8、疲劳特性:衰减量小于 2%
9、零值误差:满量程的±1%
10、响应时间:1 秒
11、使用环境: 温度(0~40)℃,湿度<85%RH
12、尺寸和重量:160mm×78mm×43mm;0.2kg
13电源: 常规使用 6F22 型 9V 积层电池一只亦可使用数据线连接 USB 接口、5V 电源适配器供电,整机功耗<0.1VA
三、产品特点
1、光谱及角度特性经严格校正
2、数字液晶显示,带背光
3、手动/自动量程切换
4、数字输出接口(USB,冗余供电)
5、低电量提醒
6、自动延时关机
7、有数字保持
8、轻触按键操作,蜂鸣提示
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技术顾问:伊工
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