MarSurf XR 20 是的表面测量仪器，计算机能为检测室和生产现场提供符合国际标准的表面测量参数。
高性能的 MarSurf XR 20 是Mahr积累数十年表面计量学研究经验，结合未来发展而产生的测量设备
• 可提供依据ISO / JIS / ASME or MOTIF (ISO 12085)
标准测量R，P，和W轮廓的超过100种参数
• 监控公差和所有参数统计分析
• 使用示教模式在 Quick & Easy 快速编程
• 综合计录
• 自动选择符合标准的过滤方式和取样长度()
• 支持不同Ra或Rz的评定方法 (静态 /动态)
• 可调整服务和校准周期
• 模拟测量模式能使客户更快熟悉软件测量
• 多种配置满足不同的应用要求
•可设置不同权限用户
•灵活的系统可配置其他备件，建立客户参数
•不同权限用户设置可避免错误操作和确保没有权限的人不能使用仪器
