产品名称：粗糙度轮廓仪-T8000SC

产品详情：

使用高分辨率数字式探测系统同时记录粗糙度参数和 轮廓特征值，并且在一个流程中进行评价。因此，该测 量系统为测量室和加工现场的高要求测量任务提供了 解决方案。 此系统性价比，应用广泛，性能堪与复杂的实验室 测量系统媲美。

HOMMEL-ETAMIC surfscan 系统特征：

1. 通用测量站，既可用于测量室，也可用于生产现场的质量检验

2. 模块化设计，可进行量身定做的个性化测量站配置

3. 可交互操作的软件，在一份个性化设计的测量报告内组合评价粗糙度和轮廓特征值

4. 粗糙度和轮廓共用一个探测系统

5. 由于量程大，无需将探测系统和工件表面对齐

6. 测量斜面和曲面粗糙度时，6 mm量程内具有 6 nm 分辨率

7. 测头臂配置磁性支架，更换快速且安全

8. 粗糙度和轮廓评价软件具有广泛的选项功能

9. 可配置其它探测系统拓展应用范围，如配置wavecontour™ digital / digiscan 探测系统放大轮廓量程，或配置粗糙度测头用于特殊的粗糙度测量

HOMMEL-ETAMIC surfscan 技术亮点:

1. 同时测量粗糙度和轮廓，节约时间

2. 重复精度高

3. 测量粗糙度时省却了耗时的基准面对齐步骤

4. RFID 技术保证了测头臂的自动识别和测量参数的正确设置