介质损耗因数试验仪（介电常数测试仪）—介质损耗因数的物理意义

绝缘介质在交流电压作用下会在绝缘介质内部产生损耗，这些损耗包括绝缘介质极化产生的 损耗、绝缘介质沿面爬电产生的损耗和绝缘介质内部局部放电产生的损耗等。由于绝缘介质内部产生了损耗，所以造成施加在绝缘介质上的交流电压与电流之间的功率因数角不再是90°。我们把功率因数角的余角称为介质损失角，并用介质损耗因数(tanδ)来表示绝缘系统电容的介质损耗特性。

介质损耗因数(tanδ)的表示方法

由图5-7等效电路图和相量图可知，绝缘介质中的损耗可表示为W=UIcos＝UI_R＝UI_Ctanδ， 所以 tanδ=I_R/I_C。为了便于比较，通常取tanδ=I_R/I_C×100%，即用tanδ来表示相对的介质损耗因数的大小。这样可以消除绝缘介质几何尺寸差异造成的影响，便于比较和判定不同结构产品的绝缘性能。

     介质损耗因数试验仪（介电常数测试仪）实验步骤：

1、按照Q表的操作规程调整仪器，选定测量频率，测定C1和Q1的值。
2、将试样放入测试电极中，并调节电容器C，使电路谐振，达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。
3、将试样从测试电极中取出，调节C或测试电极的距离，使电路重新谐振，记下C、或测试电极的校正电容值与Q值，北京智德创新检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。
4、其他高频测试仪器按其说明书进行操作，北京智德创新检测仪器通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。

产品特点：
1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
2、双测试要素输入 - 北京智德创新检测仪器测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值，che底gen除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值（特别是小电感值）测量时的精度。此技术只有北京智德创新仪器生产的Q表有。
9、新增功能：大电容值直接测量显示功能，电容值直接测量值可达25nF（配100uH电感时）。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京智德创新检测仪器生产的Q表有。