薄膜体积电阻率|体积表面电阻试验仪主要参数：

Ø  型号：ZST-122

Ø  电阻测量（Ω）：0—2×1019

Ø  电流测量（A）： 10-16—2×10-4

Ø  额定电压（V）：10，25，50，100，250，500，1000

Ø  显示：3 1/2位大屏带背光数字显示

Ø  测量定时功能：1-7min自动读数锁定

Ø  误操作报警功能：有

Ø  防滤波干扰功能：有

Ø  电 源：内置可充电电池

Ø  外形尺寸（mm）：320×290×115( l×b×h)

Ø  质量（重量）：3KG

Ø  使用环境：温度：0-40℃，相对湿度＜80%

薄膜体积电阻率|体积表面电阻试验仪——可能影响测量结果的各种因数

1、测量时间对测量结果的影响

在测量电线电缆、大型电机、变压器等大容量电器时，由于被测器件中存在较大的分布电容以及绝缘材料的介质吸收与极化现象，其充电时间常数可能高达数十分钟，在测量开始时，电容性电流占主导地位，电阻示值很小，随着电容电流逐渐衰减，仪表电阻示值呈缓慢上升，这是正常现象（如果电阻示值很快稳定，反而说明在测量开始时电导性泄漏电流就在在测量电流中占主导地位，北京检测仪器这是被测对象因受潮而导致绝缘不良的一个主要特征）。为了取得一个比较确定的测量结果，通常对被测器件规定一个特定的测量时间（如电线电缆规定为1分钟），可以通过设置仪器的定时器获得所需的定时时间。

2、重复测量对测量结果的影响

在测量电线电缆、大型电机、变压器等大容量电器的绝缘电阻时，如在短时间内进行重复测量，则二次测量示值将明显比第一次测量示值高，这是由于被测器件中存在第一次测量所施加的残余电荷的缘故。这些器件充电时间很长，同样，放电时间也很长，在没有充分放电的情况下重复测量，充电效果是叠加的，其等效作用是延长了后一次测量实际上的测量时间，电阻示值自然较高。因此，北京检测仪器测量结果应以第一次测量为准，如要进行第二次测量则必须对被测器件进行充分放电后（一般为数十分钟至数小时）才能进行。

3、测量电压对测量结果的影响

不同的测量电压可能会导致不同的测量结果，通常是测量电压越高，漏电流越大，电阻值越小，具体原因见 4.4.4节。

4、环境温度对测量结果的影响

电线电缆、电力器件、半导体元件等被测对象的绝缘电阻（或漏电流）有很大的温度系数，如硅二极管，环境温度每增加8-10 ℃，其反向漏电流就要增加一倍，绝缘电阻值降低一倍。为了取得一个比较确定的测量结果，通常对被测器件规定一个特定的测量环境温度，在其他温度下的测量结果，可以通过一定的公式换算到特定温度下的绝缘电阻。在超高阻及微电流测量中还必须

保证环境温度的稳定性，我厂在研发实践中发现，在变化的温度场中（ 如普通空调开启与停止之间有1-2℃的温度变化 ），北京检测仪器测试导线（聚乙烯介质的同轴电缆）会产生10-13A - 10-12A  数量级的干扰电流（由于材料的热释电效应引起），试验室建议采用连续送风的中央空调或变频式空调。

5、环境湿度对测量结果的影响

环境湿度对超高阻（>1013Ω）测量、绝缘材料表面电阻率测量、防静电工程表面电阻测量影响很大，这是由于绝缘材料表面吸湿效应所致。虽然3.1.1.2节中规定了仪表的正常工作条件为相对湿度不大于80%（无凝露），但这仅对仪表本身而言，在超高阻测量的情况下，被测对象（包括检定仪表用的高值标准电阻器）对环境湿度的敏感程度要远远高于仪表本身。因此在进行上述测量时环境湿度应不大于60% RH，进行高绝缘电阻试验的试验室通常应备有空气抽湿装置。

6、环境干扰对测量结果的影响

环境干扰对超高阻（>1012Ω）、微弱电流（<10-11A）测量结果的稳定性影响较大，用户应设法避免的环境干扰包括:

a)电磁场干扰：高压交流输电线，北京检测仪器大型电机、变压器、电磁铁、中频及高频加热装置以及产生电脉冲、电火花的干扰源包括手电钻、电吹风、电焊机、以及大功率电器的启动与停止，都可能造成测量结果不稳定。

b)机械振动：仪表及被测对象应保持静止，机械振动会在电路中产生压电效应、摩擦生电效应以及被测物与仪表之间分布电容的变化，影响测量结果的稳定性，尤其要保证被测对象及测量导线的绝对静止，在进行超高阻（>1013Ω）、极微弱电流（<10-12A）测量时，建议采用带有双重屏蔽层的低噪声电缆作测量导线，最好采用以空气为绝缘介质的金属硬管空气电缆。

c)人体感应：因为人体与仪表及被测对象存在分布电容，且不可避免带有电荷，操作人员的走动、肢体移动都会引起周围电场的变化，导致仪表读数上下跳动。

d)空气中正负离子的干扰：在测试现场，某些能造成空气电离的装置如正、负离子发生器，空气净化器等会对测量结果造成较大影响，实验表明，在进行超高阻（>1013Ω）、极微弱电流（<10-12A）测量时，由空调、去湿机的压缩机，或电风扇引起的空气流动、摩擦所产生的微弱电荷都会给测量结果带来明显影响。

使用北京检测仪器仪表中的滤波器可以在一定程度上提高仪表读数的稳定性，杜绝环境干扰的最好办法是将被测对象整体静置在金属屏蔽盒内，并保持与屏蔽盒绝缘良好，屏蔽盒与仪表的屏蔽端连接。

使用注意事项：

★高阻测量一定要严格按使用方法步聚进行，否则有可能造成仪器*损坏或电人。 
7.1 应在“Rx"两端开路时调零（主机开机）
如接在电阻箱或被测量物体上时调零后测量会产生很大的误差。一般一次调零后在测试过程中不需再调零，但改变测量电压后可能要重新调零。 
7.2 禁止将“Rx"两端短路，以免微电流放大器受大电流冲击
7.3 在测试过程中不要随意改动测量电压， 
★随意改动测量电压可能因电压的过高或电流过大损坏被测试器件或测试仪器，而且有的材料是非线性的，即电压与电流是不符合欧姆定律，有改变电压时由于电流不是线性变化，所以测量的电阻也会变化。 
7.4 测量时从低次档逐渐拔往高次档 
★每拨一次稍停留1～2秒以便观察显示数字，当有显示值时应停下，记录当前的数字即是被测电阻值。若显示“1"时，表示欠量程应往高次档拔。直到有显示数字时为止。当有显示数字时不能再往高次档拨，否则有可能损坏仪器(机内有过电流保护电路)。除104 Ω档之外，当显示低于1.99，表示过量程应换低档! 
7.5 大部分绝缘材料，特别是防静电材料的电阻值在加电压后会有一定变化而引起数字变化 
★由于本仪器的分辩率很高，因而会引起显示值的末尾几位数也变化，这不是仪器本身的问题，而是被测量对象的导电机理复杂而使得阻值有些变化。在这种情况下往往取2位有效数就够了。 
7.6 接通电源后，手指不能触及高压线的金属部分 
★本仪表有二连根线:高压线(红)和微电流测试线。在使用时要注意高压线，开机后人不能触及高压线，以免电人或麻手。 
7.7 测试过程中不能触摸微电流测试端 
★微电流测试端zui怕受到大电流或人体感应电压及静电的冲击。所以在开机后和测试过程中不能与微电流测试端接触，以免损坏仪表。 
7.8 在测量高阻时，应采用屏蔽盒将被测物体屏蔽. 
★在测量大于1010 Ω以上时，为防止外界干扰面而引起读数不稳。 
7.9 每次测量完时应将量程开关拨回“104 "档再进行下次测试
在测量时应逐渐将量程开关拨到高阻档，测量完时应将电流电阻量程、电压量程开关拨回低档。以 确保下次开机时量程开关处在低阻量程档。

绝缘电阻测试仪测试回路分析

绝缘电阻测试仪是用来测量绝缘电阻大小的仪 器，绝缘电阻测试方式是施加一固定电压于待测物相 互隔离的两端点上，而电阻的测量范围从几百KΩ到 几GΩ，在使用上会配合绝缘电阻下限的设定，使产 品符合安规测试要求。绝缘电阻测试仪有较宽的量 程范围，可以正确地测量出被测物实际的电阻值。做 绝缘电阻测试时可以从产品平均的测试范围设定一 个限值，不仅使产品符合安规低的测试要求，更可 对所生产的产品做出更加严格的把关。

按照目前国际上通用的绝缘电阻测试标准，一般 是用直流500V或1000V电压去测试被测物的绝缘性 能的好坏，然后用绝缘电阻的数值来评估被测物绝缘 性能。绝缘电阻测试的好处是可以量化产品的绝缘 性能，一目了然地为产品的设计者、生产者对于产品 的材料、工艺结构等马上给出一个非常直观的结果，原则上绝缘电阻阻值越大越好。但绝缘电阻测试的 缺点也是显而易见的，即测试结果的重复性很差，且 电阻测试的值越高越会受到外在因素的影响，当然， 这也跟绝缘电阻测试仪本身的设计有关。我们知道， 绝缘电阻测试电压一般是直流 500V 或者 1000V，这 相当于一个直流耐压测试，仪器在这个电压下测量出 一个电流值，然后通过内部的线路计算，将这个电流 放大，最后通过欧姆定律：R＝U/I，其中U就是测试 电压500V或者1000V，而I就是在这个电压下的漏电 流。根据耐压测试经验我们可以了解到，这个电流都 是非常小的，一般都是小于1μA。

由上面可以看出，绝缘阻抗测试的原理和耐压测试一样，只不过是欧姆定律的另外表述，耐压测 试使用漏电流来描述被测物的绝缘性能，而绝缘电阻 测试则是用电阻值描述。

目前任何耐压测试仪的基本功能，都是监测被测 物对地的泄漏电流。泄漏电流过大通常表明被测物 存在绝缘缺陷。耐压测试所采用的电路，预先为过大 电流设定了断路电流值。当泄漏电流超过断路电流 值时，耐压测试仪进入故障模式来告知操作人员被测 物存在绝缘故障，仪器会自动切断高压输出，一般情 况下还会在测量范围内指示出该电流值的大小。大 多数耐压测试仪都配有电流表，便于在测试中监视泄 漏电流。但是，由于仪器的设计不同，对于漏电流的 监控也有非常大的差异性，一般的耐压测试仪高压测 试的回路有两种形式：测试回路接地形式，即高压测 试回路线和仪器的接地点共同一点；浮动回路形式， 即测试回路和仪器的接地点全不同。

绝缘电阻测试仪在正常的测试条件下，是属于上 述的第二种情况，即浮动回路形式，通过将测试回路 和接地屏蔽短路时，也可实现测试回路接地形式，有 些厂家基于设计上的方便考虑，会直接在仪器内部将 其短路，但以这样的设计方式并非真正考虑到用户产 品测试应用上的需求。

1 测试回路接地形式

对于第一种测试回路接地的测试原理，请参考图1。

典型的耐压测试仪由于存在分布耦合电容，因此 将有泄漏回馈电流。图中显示由于内部的线圈耦合 电容和耐压测试器机壳和内部联机间的耦合电容造 成的耐压测试器内部泄漏电流的流动路径。任何电路都存在一定的电容，即便是一个简单的变压器，在 线圈与铁心之间也存在电容。虽然电容会对电流的 通过构成一定阻力，但也会让一些交流电流通过，这 就是用户实际测量的电路。泄漏电流的大小取决于 电路电容、频率和所加载的电压，泄漏电流流向大地， 即我们供电系统的参照。多数耐压测试仪不是回路 内部接地，就是属于回路外部接地(因为被测物是接 地的)，于是就形成了一个回路，使电流表得以监视耐 压测试器的内部泄漏电流。

2 浮动回路形式

对于测试回路浮动测试原理参见图2。

在耐压测试中，获得漏电读数最准确的方法是使 用带有浮动回路的耐压测试仪，回路不直接接地，同 时被测物也须放置在不接地的绝缘表面上，绝缘电阻 测试仪正常的接线方式便是如此。在此电路结构中， 电流监控电路被接在被测物的回路导线与接地之间， 流向大地的泄漏电流将流过电流表，因此它只能监测 到通过被测物的泄漏电流，这就好比将一个外部电流 表接在被测物上，只有通过被测物的泄漏电流才能被 监测到，而无法读出电阻值。这是因为在500V的状 况下，流过的电流非常小以至于仪器无法判定出电阻 值，或者说是该电阻值远远大于仪器的量测范围。所 以如果将测试回路和接地屏蔽短路量测出了一个值，对输入量 t_cer 的不确定度有影响的因素包括高温 计分度的不确定度和高温计分度周期内的不稳定性。

（1）高温计分度结果引入的标准不确定度 u(t_cer1) 根据检定规程的要求计算在（800～2000）℃，高 温计检定结果的标准不确定度为 u(t_cer1) =（0.350～ 0.850）℃，自由度为γ=（17～53）。

（2）高温计分度周期内的不稳定性引入的标准不 确定度 u(t_cer2)。

在（800～1400）℃时，分度周期内高温计的稳定 度为0.5℃，按均匀分布考虑，则：

在（1400～2000）℃时，分度周期内高温计的稳定 度为1.0℃，按均匀分布考虑，则：

不确定度可靠性为75%，自由度为γ=8。

则 u(t_cer) =（0.46～1.03）℃ ，有 效 自 由 度 v_eff = （19～55）。

4.4 合成标准不确定度的计算

在（800～2000）℃，钨带灯电流随温度的变化率 dI/ dt =（0.005～0.01）A/℃下，

在（800～2000）℃范围内，则：

换算成温度值为（0.54～1.07）℃，有效自由度 v_eff =（25～93）。

取置信概率P=99%，查t分布表，得：

在（800~2000）℃ 范 围 内 ，U₉₉ =（1.45~2.88）℃ ， k₉₉ =（2.63~2.79）。