半导体芯片测试设备自动拉力测试机
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半导体芯片测试设备自动拉力测试机

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2023-03-08 17:05:06
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力标精密设备(深圳)有限公司

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产品简介

力标精密设备(深圳)有限公司,是一家研发、生产、销售为一体的多功能推拉力测试机生产厂家,产品主要应用于:微电子行业、半导体封装、LED封装、摄像头模组、功率模块、光通讯等封装行业的精密检测,公司坚持自主创新不断优化产品核心技术,我们拥有专门的研发团队,可根据不同客户的需求提供订制化精密测量仪器,满足不同客户的测试需求,产品性能稳定性高。我们将本着诚信、合作、创新、共贏的经营理念真诚对待每一位客户,

详细介绍

推拉力测试机的原理基于力学原理,即力与位移之间的关系。推拉力测试机通过施加推力或拉力于测试样品,并测量该力对样品造成的位移,从而确定样品的强度和耐久性。

一、推拉力测试机的工作原理主要由以下几部分组成:

1、传动机构:用于生成施加在样品上的推力或拉力。

2、传感器:用于测量样品产生的位移。

3、控制系统:负责设置测试参数,控制测试过程,并记录和分析数据。

4、数据处理系统:负责处理和分析测试数据,以评估样品的强度和性能。
推拉力测试机在多个行业中得到了广泛应用,其中一些主要的行业如下:

1、汽车行业:推拉力测试机可以用于测试汽车零部件的强度和耐久性,以确保汽车的质量和安全性。

2、医疗设备行业:推拉力测试机可以用于测试医疗设备的强度和耐久性,以确保医疗设备的安全性和可靠性。

3、电子行业:推拉力测试机可以用于测试电子产品的强度和耐久性,以确保电子产品的质量和安全性。

4、食品和饮料行业:推拉力测试机可以用于测试包装物品的强度和耐久性,以确保食品和饮料的安全性和可靠性。

5、建筑行业:推拉力测试机可以用于测试建筑材料的强度和耐久性,以确保建筑物的安全性。

这些仅仅是推拉力测试机应用的一些行业,实际上它还可以用于其他多个行业,如机械行业、航空航天行业等。推拉力测试机的应用范围非常广泛,因为它可以用于评估各种物品的强度和耐久性,以确保产品质量和安全性。推拉力测试机是各个行业生产制造过程中的测试设备。此外,推拉力测试机还可以帮助生产商满足各种国内外质量标准和要求,如ASTM、ISO、EN等。推拉力测试机还可以帮助生产商提高生产效率和降低成本,因为它可以快速准确地测试产品的质量和性能。

型号:LB-8600产品介绍

LB-8600多功能推拉力测试机广泛用于LED封装测试,IC半导体封装测试、TO封装测试,IGBT功率模块封装测试,光电子元器件封装测试,汽车领域,航天航空领域,产品测试,研究机构的测试及各类院校的测试研究等应用。

设备功能介绍:

1.设备整体结构采用五轴定位控制系统,X轴和Y轴行程100mm,Z轴行程80mm,结合人体学的设计,保护措施,左右霍尔摇杆控制XYZ平台的自由移动,让操作更加简单、方便并更加人性化。

2.可达200KG的坚固机身设计,Y轴测试力值100KG,Z轴测试力值20KG

3.智能工位自动更换系统,减少手工更换模块的繁琐性,同时更好提升了测试的效率及便捷性

4.高精密的动态传感结合的力学算法,使各传感器适应不同环境的精密测试并确保测试精度的准确性

5.LED智能灯光控制系统,当设备空闲状况下,照明灯光自动熄灭,人员操作时,LED照明灯开启

设备软件:

1.中英文软件界面,三级操作权限,各级操作权限可自由设定力值单位Kg、g、N,可根据测试需要进行选择。

2.软件可实时输出测试结果的直方图、力值曲线,测试数据实时保存与导出功能,测试数据并可实时连接MES系统软件可设置标准值并直接输出测试结果并自动对测试结果进行判定。

3.SPC数据导出自带当前导出数据值、最小值、平均值及CPK计算。

传感器精度:传感器精度±0.003%;综合测试精度±0.25%测试传感器量程自动切换。

测试精度:多点位线性精度校正,并用标准法码进行重复性测试,保证传感器测试数据准确性。

软件参数设置:根据各级权限可对合格力值、剪切高度、测试速度等参数进行调节。

测试平台:真空360度自由旋转测试平台,适应于各种材料测试需求,只需要更换相应的治具或压板,即可轻松实现多种材料的测试需求。

测试参数:

设备型号:LB-8600

外型尺寸:680*580*710(含左右摇杆)

设备重量:95KG

电源供应:110V/220V@4.0A  50/60HZ

压缩空气:4.5-6Bar

真空输出:500mm Hg

控制电脑:联想PC

软件运行:Windows7/Windows10

显微镜:标配双目连续变倍显微镜(选配三目显微镜)

传感器更换方式:自动切换

平台治具:360度旋转,平台可共用各种测试治具

XY轴有效行程:100*100mm

Z轴有效行程:80mm

XY轴分辩率:±1um   Z轴分辩率±1um

传感器精度:传感器精度±0.003%;综合测试精度±0.25%



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