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面议 ![]() | 特征➤ 通用仪器,用于自动测量薄膜和超薄薄膜(<0.05μm),以及用于ppm级范围内的材料分析➤ 带钨阳极的微聚焦管 ➤ 3倍可更换初级过滤器 ➤ 4倍可更换光圈 ➤ 不同半导体检测器的选件(硅PIN检测器; SDD 20mm²; SDD 50mm²) ➤ *保护的仪器,根据德国辐射防护法获得型式认可 |
![]() | ![]() | 带有50mm²硅漂移检测器的版本也适用于RoHS测量。 |