安捷伦Agilent射频测试仪4287A
 

　　产品详细介绍:
 

　　频率1 MHz至3 GHz，100 kHz步进
 

　　测量范围
 

　　宽阻抗测量范围：200 m ohm至3 k ohm
 

　　基本测量精度1%基本精度
 

　　更多特性
 

　　在低测试信号电平时优异的测量可重复性
 

　　高速测量： 9 ms
 

　　Agilent4287A射频测试仪
 

　　Agilent4287A射频测试仪LCR在1MHz～3GHz频率范围可以提供，可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反向测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行测量。
 

　　生产率高，质量可靠
 

　　4287A适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量非常快。此外，在小测试电流(100μA)优良的测试重复性还可以显著提高生产率，因为所需的取平均过程非常短。
 

　　系统组建简单
 

　　测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件点测件接点附近，而不会使误差有任何增大。内置比较器功能，高速GPIB处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。
 

　　便于使用
 

　　8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产**。此外，若干APC-7SMD测量夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用，从而无需制作专用夹具。