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MVS-729F,采用高效自主算法,由高性能工业控制器、高清工业相机阵列构成,有效的提高了生产效率与保障了产品的一致性,其具有如下特征
◆ 基于*的软件开发环境、高效自主图形算法,安全、可靠
◆ 高性能工业控制器与工业相机阵列,检测效率高、精度高
◆ 方便的维护舱门、推拉装置和安全锁
◆ 定制尺寸,适于生产现场与运输
◆ 检测液晶模组的点、线、面缺陷与外观损伤
◆ 单项缺陷检测算法达到毫秒级
◆ 检测大尺寸液晶模组
◆ 可检测Mura、漏光等业内高难度缺陷