进制程半导体的需求持续增加得益于电动车、车用电子与传感器、5G、穿戴装置、AI、云端储存运算..等新技术的发展，半导体制程技术演进，也使得组件尺寸越做越小，组件也开始出现可靠度--翘曲、脱层、裂痕等问题，对于半导体的可靠度测试、故障分析及寿命推估的严苛要求也有所提升，需要进行气候环境模拟试验，其中一项测试是温度冷热冲击测试，昊极科技提供可靠的冷热冲击试验箱。
 

　　JEDEC是半导体业界的一个标准化组织，制定固态电子方面的工业标准(半导体、记忆体)，成立超过50年是一个性的组织，他所制订的标准是很多产业都能够接手与采纳的。
 

　　JESD22-A106B 温度冲击测试，推荐设备：冷热冲击试验箱。
 

　　进行此温度冲击测试，是为了确定半导体元器件，对于突然暴露在高低温条件下的抵抗力及影响，温度冲击测试其温变率过快并非模拟真正实际使用情况，其目的是施加更严苛的应力于半导体元器件上，加速其脆弱点的破坏，找出产品可能的潜在性缺陷。
 

　　冷热冲击试验箱是 IC 芯片和小型电子产品测试的理想选择。设计由两个独立控制的腔室构成。一间房是热的，另一间是冷的。产品在热室和冷室之间快速转移，从而对样品产生温度冲击,以帮助发现电子元件和产品组装中的产品缺陷。
 

　　昊极科技研发的冷热冲击试验箱符合各种测试规范，包括 Mil-Std 810、Mil-Std 883、IEC 60068-2-14、JEDEC 和各种商业测试标准。
 

　　凭借LOW GWP(变暖潜势)技术，昊极科技的冷热冲击试验箱可提供高达40%的节能和R-449A制冷剂，可让您的测试面向未来。
 

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　　昊极科技(广东)有限公司
 

　　致力成为更安全的环境试验箱制造商
 

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