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高加速老化试验(HAST)目的是为了提高产品环境应力(如: 温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，随着电子、半导体产品可靠性的提高，目前大多电子器件能承受长期的高温高湿度偏差试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。在产品的设计阶段，用于快速暴路产品的缺陷和薄弱环节，测试其制品的密封性和老化性能。
广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA.光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。
1、采用进口耐高温电磁阀双路结构，在上降低了使用故障率；
2、独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏；
3、门锁省力结构，解决代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点；
4、试验前排冷空气；试验中排冷空气设计（试验桶内空气排出）提高压力稳定性、再现性；
5、超长效实验运转时间，长时间实验机台运转400小时；
6、水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护；
7、tank耐压设计，箱体耐压力（150℃）2.65kg，符合水压测试6kg
8、安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮；
9、偏压测试端子耐压可达3000V（选配）
10、USB导出历史记录数据，曲线
| 内部尺寸 | ∲400mm×L500mm | ||||
| 外部尺寸 | 900×850×1800mm（W*D*H） | ||||
| 设定温度 | +100℃~+132℃（蒸气温度） | ||||
| 湿度范围 | 70~99%蒸气湿度 | ||||
| 湿度控制稳定度 | ±3%RH | ||||
| 使用压力 | 1.2~2.89kg（含1atm） | ||||
| 时间范围 | 0Hr~999Hr | ||||
| 加压时间 | 0.00Kg~1.04Kg/cm2约45分 | ||||
| 温度波动均匀度 | ±0.5℃ | ||||
| 温度显示精度 | 0.1℃ | ||||
| 压力波动均匀度 | ±0.1Kg | ||||
| 湿度分布均度 | ±3%RH | ||||
