TRITOP - 光学三维坐标测量系统三维扫描仪-苏州邦恩精密仪器有限公司手机版

详细介绍

TRITOP - 光学三维坐标测量系统

便携式 TRITOP摄影测量系统可以快速准确地测量物体的三维坐标。相对传统接触式三维坐标测量仪而言，现在可以用 TRITOP系统更轻松地展开测量工作。不需要任何复杂、沉重和精密维护的硬件，让测量仪轻松地趋近物体就行！

像接触式坐标测量仪一样，TRITOP能记录任何特征空间的坐标及其方向：

确定三维坐标以后，测量系统将会把测量结果转换到部件坐标系统中：

用于不同任务的测量数据和对齐数据：

把实际测量数据与 CAD 数据（ IGES、VDA、STEP、Catia、ProE、UG ……）进行比较，生成用户熟悉的格式的测试报告：

应用范围

静态变形分析

TRITOP 是一套便携、易用的光学测量系统，能精确定义准静态条件下物点的三维坐标，并由此计算出各种物体和组件的三维位移及形变。

无需在物体上或物体周围安装测量头、布置电缆，从而不会与物体相互干扰，这一特点使非接触式 TRITOP 迅速取代了传统的位移传感器或 LVDT，用以捕捉位移和变形。

利用 TRITOP 测量系统，可以生成以下各类测量点参数：

这些结果可以用图表形式显示，或直接显示在 CAD 数据上或叠加显示于记录的相机图像上，从而提供直观易懂的结果报告。

应用范围

TRITOP 技术优点

应用提示

建议了解更多关于 TRITOP 测量系统的实际应用。

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