覆层测厚仪

ATX210覆层测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2021-01-04 10:07:56
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北京时代光南检测技术有限公司

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产品简介

覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金等)上非磁性覆层厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等),非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚度(如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等)

详细介绍

 

ATX210覆层测厚仪功能特点

ATX210覆层测厚仪技术参数

            1.  一点校准(um):±[2%H+1]
            2.  两点校准(um):±[(1%~3%)H+1]
            3.  一点校准(um):±[2%H+1.5]
            4.  两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5]

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