日本理学Rigku XRD

日本理学Rigku XRD

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具体成交价以合同协议为准
2020-11-06 09:53:34
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产品简介

日本理学Rigku XRD型号分为:Ultima IV、MiniFlex、 Smatlab 是当今市场采用全自动校准的X射线衍射仪。CBO技术与自动校准相结合,使Ultima IV X射线衍射仪成为多功能应用灵活系统。

详细介绍

日本理学Rigku XRD Ultima IV

快速

Ultima IV 是多功能X射线衍射仪的*代表。平行光与聚焦光灵活转换,Ultima IV X射线衍射仪可快速执行多种不同测量。

灵活

The Ultima IV 是当今市场采用全自动校准的X射线衍射仪。CBO技术与自动校准相结合,使Ultima IV X射线衍射仪成为多功能应用灵活系统。

在Ultima IV XRD 系统中, CBO 技术缩短了切换测角仪时花费的时间,使日常用户可以运行两组试验而无需重新设置系统,可以减少经常切换造成的磨损和光路损坏。

CBO 与自动校准相结合后功能如下:

粉末衍射
薄膜衍射
小角散射
In-plane散射
Ultima IV: 快速 ? 灵活 ? 实用

 Smatlab

智能X射线衍射仪SmartLab系列,是性能的多功能的X射线衍射仪,它采用了理学CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。The SmartLab 高分辨衍射系统是全自动模块化XRD系统的代表。该系统配备了高分辨θ/θ闭环测角仪驱动系统,选配的in-plane 扫描臂、9kW转靶发生器,全自动光学系统实现的测量。

主要特点

智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。

可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料

可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

主要的应用有:

1. 粉末样品的物相定性与定量分析

2. 计算结晶化度、晶粒大小

3. 确定晶系、晶粒大小与畸变

4. Rietveld定量分析

5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度

6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构

7. 小角散射与纳米材料粒径分布

8. 微区样品的分析

技术参数

1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶

2、测角仪为水平测角仪

3、测角仪进为1/10000度,精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)

4、测角仪配程序式可变狭缝

5、自动识别所有光学组件、样品台

6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)

7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)

8、多用途薄膜测试组件

9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件

10、In-Plane测试组件

11、入射端Ka1光学组件

12、高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)

13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,可以接收直射X射线)

14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance

MiniFlex

日本理学Rigku XRD MiniFlex具有600W功率,是其他台式机的两倍;高分辨、高精度、高信噪比;丰富的附件可供选择,满足广泛应用需要。

安全设计: 采用联锁装置,在X射线开启状态下无法打开样品室操作窗。在测试中如果指令样品室解锁,则快门关闭同时停止X射线。

高分辨率: 入射和发散狭缝可选,为您提供所需的分辨率。

高 精 度: 实时角度校正功能,大幅提高角度精度、强度等基本性能,得到高精度测试数据。

高信噪比: 可以选配单色器,用于扣除荧光X射线背底,提高信噪比进行高质量数据测试。

丰富附件: 一维高速探测器、6位样品自动转换器、旋转样品台、气密样品台等

应 用: 石棉、游离氧化钙等定量分析 工业原材料品质管理、大学、科研等

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