MC022系列薄膜测厚仪(CH-1-S)

MC022系列薄膜测厚仪(CH-1-S)

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2023-08-19 08:07:51
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产品简介

MC022系列薄膜测厚仪MC022系列(CH-1-S)一、CH-1-S型薄膜测厚仪概述:CH-1-S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）

详细介绍

MC022系列薄膜测厚仪

MC022系列(CH-1-S)

一、CH-1-S型薄膜测厚仪概述:

   CH-1-S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

二、CH-1-S型薄膜测厚仪主要参数:

1. 量程：0-1mm　分度值：0.001mm

2. 上测头曲率半径：15-50mm

3. 测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N

4. 测量精度：100vm以内＜1vm

             100-250vm＜2vm

             250vm＜3vm

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