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X射线镀层测厚仪BA-100采用业界优*的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。该机型配备大面积的硅漂移探测器，有效拓展元素分析范围，适应严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。优秀的测试性能、突出的微区测量能力，X射线镀层测厚仪BA-100是您研究开发、质量管控的理想XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。
特点：
1.紧凑式的结构设计提高效率和精度
2.经过验证的固态探测器提供更高的分辨率、稳定性和灵敏度
3.更快的预热时间和更长寿命的光管
4.多种一次滤波器和准直器
5.可变焦距适应复杂样品测量需求
6.模块化设计使得维修维护更容易
7.数秒内快速无损分析
8.成份分析zui多可达25种元素
9.同时可zui多分析5层
10.基于基本参数法的镀层和成份分析
11.简单设置并只需一根USB线和电脑连接
12.快捷的面板控制按钮
13.占用空间小、轻量化设计
技术参数：
X-ray 管 | 50W (50Kv 1mA) 微聚焦钨钯射线管 |
探测器 | 固态探测器（分辨率优于190ev） |
分析层数 | 5 层 (4 层+ 基材) |
元素数 | 每层可分析10种元素, 成分分析zui多可分析25种元素 |
滤波器和准直器 | 4位置一次滤波器和4种规格准直器 |
焦距 | 可变焦功能 |
数字脉冲处理器 | 4096 多通道数字处理器（自动死时间和逃逸峰校正） |
相机 | 1/4” CMOS-1280x720 VGA分辨率 |
电源 | 150W,电压：100~240,频率：47Hz to 63Hz |
工作环境 | 50°F (10°C) to 104°F (40°C) 少于98%湿度, 无冷凝 |
重量 | 75磅( 34kg)-110磅（50kg） |
马达控制 可编程XY平台 | 平台尺寸：350mm(13.8”)×390mm(15.5”) 行程：125mm(5”)×150mm(6”) |
延伸可编程XY平台 | 平台尺寸：715mm(28”)×600mm(24”) 行程：254mm(10”)×254mm(10”) |
内部尺寸 | 高: 140mm (5.5”),宽: 310mm (12.”),深: 210mm (8.3”) |
外部尺寸 | 高: 450 mm (18”),宽: 450 mm (18”),深: 600 mm (24”) |
三种不同的样品台满足不同的需求：
标准固定平台 马达驱动/可编程XY平台 加宽的可编程XY平台
应用：
线路板 紧固件
Au/ENi/CuPCB（ENIG） ZnFe/FeZnNi/Fe
Ag或Sn/CuPCB NiP中的磷含量测定
Au/Pd/Ni/Cu/PCB
引线框架和连接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys ，Au/Ni/NiFe
切削工具：TiCN/WCo，TiAlN/WC
五金和管道固定装置：Ni/Cu，Cr/Ni/Cu/Zn
通讯和数据储存设备：NiP/Al
珠宝、贵金属：10, 14, 18Kt
合金分类，杂质分析，元素分析，电镀液溶液分析
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