紫外可见分光光度计UV757CRT性能指标：
· 显示：主机2*20字LCD显示
· 波长范围：200nm～1100nm
· 光源：DD2.5A氘灯，钨卤素灯12V20W
· 接收元件：光电池（进口）
· 波长准确度：±0.8nm
· 波长重复性：≤0.2nm
· 光谱带宽：3nm
· 杂光：≤0.15%T（220nm和360nm处）
· 透射比显示范围：0.0%T～200.0%T
· 吸光度显示范围：-0.301～4.000A
· 浓度直读范围：0000～9999
· 透射比准确度：±0.5％T（以NBS930D测试）
· 透射比重复性：≤0.2％T
· 噪声：*噪声≤0.5%T, 0% 噪声≤0.2%T
· 漂移：≤0.004A/30min
· 基线直线性：±0.004A
· 电源：AC220V±22V,50Hz±1Hz
· 外形尺寸：520mm*410mm*200mm
· 净重：18kg
技术特点：
· 能在紫外、可见光谱区域对样品物质做定性定量的分析。
· 快速调整（整时间小于3S）。
· 采用微机测量系统，T-A转换精确，自动调整"0"和调整"100",具有GOTOλ,时间扫描，自动八联样品架，自动扣除
比色皿误差，浓度多点标定，斜率和载距设置等功能，具有RS-232 接口和并行打印口（印机，另行选项配）。
· 联机功能：通过RS-232串行接口，可利用上层软件做全波长扫描，时间扫描，浓度回归方程（1次，2次，3次 ）,多波长测试，并大大扩展测试功能（除主机功能外）提供数据向Excel 传送方式，便于用户的后期处理。
· 基于Windows开发的UVCONTROL控制软件，可对主机进行全面控制。包括数据采集（单点测量，光谱扫描定量测定，时间扫描）各种数据处理。
- 标准化、峰谷检测、面积计算。
- 图谱的放大、缩小、平滑、导树、四则运算 、1～4 次导树， T～A转换单波长、多波长定量测定。
- K系数法、一点工作曲线法，可进行次函数拟合定量分析中异常点剔除。
- 扫描图谱、工作曲线和测量结果可海量存储，方便您的办公。
- 测试报告可以以标准文件或者Excel输出。
