芯片三轮往复循环测试机-上海衡翼精密仪器有限公司手机版

产品简介

芯片三轮往复循环测试机根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试。卡被放到机器中，测试轮将循环测试100次，芯片前方滚动50次，芯片后方滚动50次，循环频率为0.5Hz，向下的压力为8N。经过测试，检查芯片情况，芯片应该是完好无损且功能正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准*的测试。

详细介绍

芯片三轮往复循环测试机产品介绍：«识别卡测试方法»ISO/IEC10373-3-2001，智能卡三轮压力测试仪根据IC卡CQM项目对卡三轮测试，适用于对识别卡、带触点的集成电路卡进行三轮往复循环测试。
HY(SL)三轮测试仪

芯片三轮往复循环测试机仪：
1.型号：HY(SL)
2、测试轮循环次数：前后循环各50次
3、电源 AC220V
4、外形尺寸（mm）: 长255 ×宽235 ×高285
5、重量（KG）：12kg