FT110A-日本日立X射线镀层厚度量测仪-昆山嘉富亿电子科技有限公司手机版

详细介绍

项目	规格
产地	日本
测定元素范围	钛（22Ti）～铋（83Bi）
样品型态	固体、液体皆可
X射线源	管电压： 50 kV 管电流：1mA（40～1000μA自动调整ZUI适电流输出）
X射线照射方向	上方垂直照射型
检测器	高强度正比例计数器
冷却方式	电子冷却（不需液态氮）
准直器（分析区域）	0.1、0.2 mmφ（自动切换）
样品观察	高解析彩色CCD镜头
样品ZUI大可分析范围	【固定】535×530 mm 【电动】260 mm x 210 mm（移动量250 mm (X)；200 mm (Y)）【样品ZUI大高度】150 mm
仪器尺寸	600 (W) × 815 (D) × 675 (H) mm
扫描分析功能	■ 自动样品平台 ■ 高解析彩色CCD镜头 ■ 广域（狭域）观察系统 ■ 雷射自动对焦系统 ■ 扫描路径纪录系统
定性分析功能	■ 元素分析 ■ 能谱比对
定量分析功能	■ 电镀膜厚测定 ■ 薄膜分析检量线法（可针对单层、双层或是多元合金单层膜厚） ■ 薄膜分析FP法（ZUI高一次分析五层）
标准配件	■ FT系列专用桌上型Dell计算机（含液晶屏幕、鼠标、键盘） ■ 数据统计处理系统 ■ 仪器硬件确认片一组（含强度、能量、分辨率及光径校正）
可加购选项	■ 微小准直器0.05、0.025 × 4 mmφ ■ 操作游戏杆 ■ 大型印刷电路板专用平台 ■ 金属电镀膜厚标准品 ■ 油压机与制锭机
设置需求	■ 建议桌面尺寸：1500 (W) × 1000 (D) mm ■ 使用电源：AC100～240V（50～60Hz）/400VA