三目正置金相显微镜XJ-52C

三目正置金相显微镜XJ-52C

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2019-04-13 10:01:49
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上海蒲柘光电仪器有限公司

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产品简介

三目正置金相显微镜XJ-52C配有大范围移动的载物台、柯拉落射照明系统、长距平场物镜、大视野目镜,图像清晰、衬度好,同时配有偏光装置,可实现偏光观察。适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别,电子芯片的检查或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等及纺织纤维、化学颗粒的分析研究。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。总放大倍数:50X-800X

详细介绍

三目正置金相显微镜XJ-52C配有大范围移动的载物台、柯拉落射照明系统、长距平场物镜、大视野目镜,图像清晰、衬度好,同时配有偏光装置,可实现偏光观察。适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别,电子芯片的检查或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等及纺织纤维、化学颗粒的分析研究。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。总放大倍数:50X-800X

三目正置金相显微镜XJ-52C

◆性能特点:
1、系统配置了大尺寸、大范围移动载物台,适合大工件的检查。
2、采用大视野目镜和长距平场物镜,视场宽阔、平坦,成像清晰。 
3、采用“T”型防振结构设计,机械载物台可慢速或快速移动试样。
4、整机采用了防霉处理,保护了镜头,延长了仪器的使用寿命。 
5、配置了偏光装置并可选配暗场、微分干涉装置,拓展了功能。。
6、两路光路自由切换输出,一路用于观察,一路连接摄像装置。
◆典型应用:
1、分析金属、矿相内部结构组织。2、电子厂PCB板、芯片检验。
2、观察材料表面的某些特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性。

 

显微镜参数:

序号名称技术参数
01平场目镜大视野 WF10X(Φ18mm)
02长距平场物镜PLL5X/0.12、10X/0.25、20X/0.40、40X/0.60、80X/0.80
03总放大倍数50X-800X
04观察头三目镜,倾斜30˚,(内置检偏振片,可进行切换)
05转换器五孔 (外向式滚珠定位) 
06粗微调调焦范围

粗微动同轴调焦, 微动格值0.7μm, 粗动松紧可调,带锁紧和限位装置

07载物台三层机械移动式尺寸: 250mmX230mm,移动范围: 154mmX154mm
08光瞳距离53-75mm
09滤色片蓝、磨砂
10落射照明系统6V 20W卤素灯,亮度可调
带视场光栏、孔径光栏、起偏振片,(黄,蓝,绿)滤色片和磨砂玻璃
11仪器重量净重11.0公斤    毛重12.5公斤
12仪器尺寸仪器尺寸42X45X45(cm) 包装尺寸45X50X50(cm)
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