DM1230型X荧光铝硅分析

荧光分析仪所具有的外形美观、一体化、连续测量标准样法、数据储存能力大等优点外，还采用了大屏幕彩色触摸式液晶屏、没有数据总线与外部直接连接的CPU、贴片电路、新设计的采用CPLD，FPGA等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器等*。是本公司实现自我超越的新成果。

主要技术指标
1. 分析范围：    Al2O3、SiO2分析范围均可调节，通过标定工作曲线的方法选定。
2. 分析范围宽度：Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2 max—SiO2 min≤7%。 
3. 线性误差：     Al2O3：≤0.14%， SiO2：≤0.14%。
4. 系统分析时间：100秒、200秒、300秒，可选。
5. 分析精度：    S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.07%。
6. 温度稳定性： 在5~+40℃范围内，漂移：∣△Al2O3∣≤0.07%，∣△SiO2∣≤0.07%。
7. 使用条件： 环境温度：5~+40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz。
8. 整机功耗：  ≤50W。 
9. 尺寸及重量： 470mm×365mm×130mm，15kg。

DM1230型X荧光铝硅分析仪 主要特点：

与钙铁分析仪同时使用、真正实现生料配料的率值控制

以不到一半的投资实现X荧光多元素分析仪的功能

触摸式彩色高清屏、多道脉冲分析器等*的大集成