NanoCala光学薄膜厚度测量系统

NanoCala光学薄膜厚度测量系统

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2019-03-29 12:31:14
774
产品属性
关闭
杭州谱镭光电技术有限公司

杭州谱镭光电技术有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

NanoCala光学薄膜厚度测量系统利用分光光谱反射仪来精确地测量光学或非光学薄膜厚度,可广泛应用于半导体、医疗和工业生产中 !

详细介绍

NanoCala光学薄膜厚度测量系统

Ocean Optics Inc 美国海洋光学是*的微型光纤光谱仪制造商,其光谱仪应用于各行各业,涵盖光电检测、生物医学、生命科学、环境检测、材料、化学、膜厚测量、工业过程控制、照明和显示等等领域。到目前为止,海洋光学在*已经卖出近十五万套光谱仪,其光谱仪光谱范围覆盖153-2500nm。

NanoCalc是一种用户可配置的膜厚测量系统,它利用分光光谱反射仪来精确地测量光学或非光学薄膜厚度,可广泛应用于半导体、医疗和工业生产中。

NanoCala光学薄膜厚度测量系统 利用白光干涉测量法的原理,NanoCalc用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据,由于反射率n和k随膜厚的不同而变化,NanoCalc根据这一特性来进行曲线拟合从而求得膜厚。在NanoCalc中,不同类型材料的相应参数通过不同的模型来描述,从而保证了不同类型材料膜厚测量的准确性。NanoCalc的膜厚测量范围为1nm到1mm,只要待测材料有一定的透射或反射就能通过NanoCalc进行膜厚测量,这些材料包括氧化物、氮化物和保护膜层等,通常这些覆膜的基地材料包括硅晶片或玻璃灯。

1nm以上的金属膜厚也能测量,只要不是*不透光的。对于已知的系统,3层以内的多层膜厚测量可以在不到一秒钟时间内完成。

通常拟合曲线和实际曲线由于干涉会引起一些差异,NanoCalc的算法充分考虑到了这一点,从而可以在比较粗糙的表面进行测量。

产品主要优势和特点

快      速:

每次测量只需轻点一下鼠标,测量结果立即呈现在显示屏上,不到一秒钟。应用于在线模式下,可接受到采样信号后,立即测量。

准      确:

分辨率0.1nm,重复性0.3nm,准确度优于1%,并且还有数百种材料组成的庞大材料库,帮助您准确分析您的薄膜。同时NanoCalc为光学测试系统,无任何运动部件,不会由于多次测量产生回程误差等机械运动误差,可长时间稳定工作。

无      损:

光学无损检测,无需像台阶仪、SEM等需破坏样品进行测量。

灵      活:

重量约为3.5kg,体积为180*150*263mm,USB连接方式,自适应90-240V的电压,携带方便,安装简单,可任意放置于实验室、生产线甚至办公桌上使用。拥有多种特种配件,可适用如非平面测量,显微测量,mapping等特殊要求。

易      用:

软件界面直观,操作简便,用户体验出色。无需专业知识以及复杂的技术培训,预先设置好测试配方后,每次重复调用即可。

性价比高:   

相对于传统膜厚测量设备,NanoCalc拥有非常高的性价比。

上一篇:虹润温度记录仪在耐火材料厂中的应用 下一篇:阻旋料位计和料位计有什么区别
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话: