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梅特勒MS104S,MS204S,MS304S,MS105,MS105DU,MS205DU,MS204分析天平
面议梅特勒ML54,ML104,ML204分析天平
面议梅特勒MS303S,MS303SE,MS403S,MS603S,MS1003S,MS1602S,MS1602SE,MS3002S,MS3002SE,MS4002S,MS4002SDR,MS600...
面议梅特勒MS6001S,MS8001S,MS8001SE,MS12001L,MS16001L,MS16001LE,MS32001L,MS32001LE,MS32000L,MS32000L,MS30...
面议梅特勒ZB203G-IC,ZB203G,ZB403G-IC,ZB403G专用天平
面议梅特勒ZB203C,ZB603C-IC,ZB603C,ZB1003C-IC,ZB1003C,ZB1503C-IC专用天平
面议梅特勒ZB2002G-IC,ZB2002G,ZB4002G-IC,ZB4002G专用天平
面议梅特勒JP1203C,JP105DUG,JP1603C,JP703C,JS1203C,JS1603C,JS703C,JE703CE珠宝天平
面议梅特勒ZB602G,ZB1502G,ZB6001G专用天平
面议梅特勒JL6001-G/L01,JP16001G,JP32001G,JP8001G,JS8001G天平
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面议梅特勒JP303G,JP503G,JS303G,JS503G,JP105DUG天平
面议上海舜宇恒平UV2400紫外可见分光光度计
UV2400 紫外可见分光光度计
UV2400系列比例监测双光束紫外-可见分光光度计,采用新型的光学结构及C-T式单色器以及优质的电路系统设计,使仪器具有波长精度高,重复性好,杂散光低及长时间的稳定性和高性价比,可满足各种层次的分析应用所需,若配上专用软件,可与PC连接,实现更多的测试功能包括数据海量存贮。
仪器特点:
自动八联池:一次可放7个样品大大提高测样分析速度。
自动扣除比色皿误差:使测光准确度(被测样浓度较低时)更为准确。
持久的稳定性:比例监测双光束光学系统,电路系统,确保仪器长时间的稳定。
超低的杂散光:*的光学系统、低噪声的电路系统和优质的光学元器件保证仪器具有超低的杂散光,使高浓度样品测试更准确。
显示及操作:人性化设计,大屏幕液晶显示器显示数据、图形、更直观,用户操作简单方便。
灯源更换简单方便:法兰盘座式氘灯结构,更换氘灯无需专用工具,免去换灯时光路调试步骤,使仪器调试、维护更加简单。
丰富的可选附件:多种附件可供选择,仪器测量功能更加广泛。
具有USB接口:可选配UV-Solution3.0工作站软件,可进行多种测试(光谱扫描、导数光谱)等功能。
技术参数
技术参数 | |
型 号 | UV2400 |
光学系统 | 比例监测双光束 |
光谱带宽 | 1.8nm |
波长范围 | 190~1100nm |
波长允许误差 | ±0.5nm |
波长重复性 | ≤0.2nm |
光度范围 | T:0~200.00%T A:-0.301~4.000Abs |
透射比允许误差 | ±0.3%T |
透射比重复性 | ≤0.1%T |
杂散光 | ≤0.05%T(220nm、360nm处) |
稳定性/噪声 | 99%(T)线噪声≤0.1%(T) 0%(T)线噪声≤0.05%(T) |
基线平直度 | ±0.002A |
漂移 | ≤0.001A/h (500nm处) |
显示器 | 128×64大屏幕液晶显示 |
外形尺寸 | 540×430×220(mm) |