PosiTector6000FNTS1美国DeFelsko PosiTector6000FNTS1涂镀层测厚仪
品牌
其他厂商性质
上海市所在地
梅特勒MS104S,MS204S,MS304S,MS105,MS105DU,MS205DU,MS204分析天平
面议梅特勒ML54,ML104,ML204分析天平
面议梅特勒MS303S,MS303SE,MS403S,MS603S,MS1003S,MS1602S,MS1602SE,MS3002S,MS3002SE,MS4002S,MS4002SDR,MS600...
面议梅特勒MS6001S,MS8001S,MS8001SE,MS12001L,MS16001L,MS16001LE,MS32001L,MS32001LE,MS32000L,MS32000L,MS30...
面议梅特勒ZB203G-IC,ZB203G,ZB403G-IC,ZB403G专用天平
面议梅特勒ZB203C,ZB603C-IC,ZB603C,ZB1003C-IC,ZB1003C,ZB1503C-IC专用天平
面议梅特勒ZB2002G-IC,ZB2002G,ZB4002G-IC,ZB4002G专用天平
面议梅特勒JP1203C,JP105DUG,JP1603C,JP703C,JS1203C,JS1603C,JS703C,JE703CE珠宝天平
面议梅特勒ZB602G,ZB1502G,ZB6001G专用天平
面议梅特勒JL6001-G/L01,JP16001G,JP32001G,JP8001G,JS8001G天平
面议梅特勒JL1502-G/L01,JL602-G/L01,JP2002G,JP3002G,JP4002G,JP6002G,JP802G,JS2002G,JS3002G,JS4002G,JS6002...
面议梅特勒JP303G,JP503G,JS303G,JS503G,JP105DUG天平
面议美国DeFelsko PosiTector6000FNTS1涂镀层测厚仪
型号 | 标准探头 | 90°标 准探头 | 柔软材料的 标准平探头 | 铝基氧化 膜测量 | 微型探头 | 一般厚探头 | 超厚探头 | ||||
一体 | 分体 | 0° | 45° | 90° | 一体 | 分体 | | ||||
F型 | F1 F2 F3 | FS1 FS2 FS3 | FRS1 FRS2 FRS3 | SPFS1 SPFS2 SPFS3 | | F0S1 F0S2 F0S3 | F45S1 F45S2 F45S3 | F90S1 F90S2 F90S3 | FT1 FT2 FT3 | FTS1 FTS2 FTS3 | FHS1 FHS2 FHS3 |
N型 | N1 N2 N3 | NS1 NS2 NS3 | NRS1 NRS2 NRS3 | | NAS1 NAS2 NAS3 | N0S1 N0S2 N0S3 | N45S1 N45S2 N45S3 | N90S1 N90S2 N90S3 | | NTS1 NTS2 NTS3 | NHS1 NHS2 NHS3 |
| | | | | | | | | | | |
FN型 | FN1 FN2 FN3 | FNS1 FNS2 FNS3 | FNRS1 FNRS2 FNRS3 | | | | | | | FNTS1 FNTS2 FNTS3 | |
量程 | 0~1500μm | 0~625μm | 0~6mm | 0~20mm | |||||||
精度 | 0~50μm时 ±(1μm +1%); >50μm时 ±(2μm +1%) | 0~100μm时 ±(0.5μm +1%); >100μm时 ±(2μm +3%) | 0~2.5mm时 ±(0.01mm +1%); >2.5m时 ±(0.01mm +3%) | 0~6mm时 ±(0.02mm +1%); >2.5m时 ±(0.02mm +5%) |