日本日置3504-60，3504-50，3504-40 C测试仪

3504-60，3504-50，3504-40日本日置3504-60，3504-50，3504-40 C测试仪

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2022-05-02 14:04:39
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产品简介

日本日置3504-60，3504-50，3504-40 C测试仪

详细介绍

日本日置3504-60，3504-50，3504-40 C测试仪

 

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
  • 高速测量2ms
  • 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
  • 对应测试线，比较器功能/触发输出功能
  • 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
  • 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
  • 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
基本参数
测量参数 Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围 C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
基本精度 （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数
测量频率 120Hz, 1kHz
测量信号电平 恒定电压模式: 100mV (3504-60)， 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻 5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）
显示 发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能 BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C拒绝功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外)
电源 AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 110VA
体积及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件 电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1

 

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