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梅特勒MS104S,MS204S,MS304S,MS105,MS105DU,MS205DU,MS204分析天平
面议梅特勒ML54,ML104,ML204分析天平
面议梅特勒MS303S,MS303SE,MS403S,MS603S,MS1003S,MS1602S,MS1602SE,MS3002S,MS3002SE,MS4002S,MS4002SDR,MS600...
面议梅特勒MS6001S,MS8001S,MS8001SE,MS12001L,MS16001L,MS16001LE,MS32001L,MS32001LE,MS32000L,MS32000L,MS30...
面议梅特勒ZB203G-IC,ZB203G,ZB403G-IC,ZB403G专用天平
面议梅特勒ZB203C,ZB603C-IC,ZB603C,ZB1003C-IC,ZB1003C,ZB1503C-IC专用天平
面议梅特勒ZB2002G-IC,ZB2002G,ZB4002G-IC,ZB4002G专用天平
面议梅特勒JP1203C,JP105DUG,JP1603C,JP703C,JS1203C,JS1603C,JS703C,JE703CE珠宝天平
面议梅特勒ZB602G,ZB1502G,ZB6001G专用天平
面议梅特勒JL6001-G/L01,JP16001G,JP32001G,JP8001G,JS8001G天平
面议梅特勒JL1502-G/L01,JL602-G/L01,JP2002G,JP3002G,JP4002G,JP6002G,JP802G,JS2002G,JS3002G,JS4002G,JS6002...
面议梅特勒JP303G,JP503G,JS303G,JS503G,JP105DUG天平
面议DR-M2多波长数字式阿贝折光仪介绍:
折射指数或阿贝数( vd 或 ve ) 可依据 450 至 1,100nm 范围内的不同波长来衡量。
DR-M2能在液晶屏幕上数字显示折射指数与阿贝数。
藉由边界线与相交线交叉点的比对进行测量。本折射仪能与数字打印机 DP-22(B)做连结(选购)。
Model | DR-M2 | 型号 | 1410 |
测量范围 | 折射指数 1.3278 至 1.7379 ( 波长450nm ) 折射指数 1.3000 至 1.7100 ( 波长589nm ) 折射指数 1.2912 至 1.7011 ( 波长680nm ) 折射指数 1.2743 至 1.6840 ( 波长1,100nm ) | ||
最小显示单位 | 折射指数 : 0.0001 阿贝数 : 0.1 | 测量准确度 | 折射指数 : ±0.0002 ( 附500 至 650nm 测试片 ) |
波长范围 | 从 450 至 1100nm ( 对于681 至 1100nm的波长,则需要近红外线观察器 (可选购)) | ||
温度测量范围 | 5 至 50°C | 输出终端机 | 数字打印机 DP-22(B) (选件) |
电源 | AC100 至 240V 50/60Hz | 电力损耗 | 160VA |