品牌
其他厂商性质
上海市所在地
梅特勒MS104S，MS204S，MS304S，MS105，MS105DU，MS205DU，MS204分析天平
面议
梅特勒ML54，ML104，ML204分析天平
面议
梅特勒MS303S，MS303SE，MS403S，MS603S，MS1003S，MS1602S，MS1602SE，MS3002S，MS3002SE，MS4002S，MS4002SDR，MS600...
面议
梅特勒MS6001S，MS8001S，MS8001SE，MS12001L，MS16001L，MS16001LE，MS32001L，MS32001LE，MS32000L，MS32000L，MS30...
面议
梅特勒ZB203G-IC，ZB203G，ZB403G-IC，ZB403G专用天平
面议
梅特勒ZB203C，ZB603C-IC，ZB603C，ZB1003C-IC，ZB1003C，ZB1503C-IC专用天平
面议
梅特勒ZB2002G-IC，ZB2002G，ZB4002G-IC，ZB4002G专用天平
面议
梅特勒JP1203C，JP105DUG，JP1603C，JP703C，JS1203C，JS1603C，JS703C，JE703CE珠宝天平
面议
梅特勒ZB602G，ZB1502G，ZB6001G专用天平
面议
梅特勒JL6001-G/L01，JP16001G，JP32001G，JP8001G，JS8001G天平
面议
梅特勒JL1502-G/L01，JL602-G/L01，JP2002G，JP3002G，JP4002G，JP6002G，JP802G，JS2002G，JS3002G，JS4002G，JS6002...
面议
梅特勒JP303G，JP503G，JS303G，JS503G，JP105DUG天平
面议LCR-817 测试仪介绍：
高精密LCR测试仪 , 12 ~ 10kHz (489 点)
LCR－800系列是一款应用于元器件/材料测量的高级数字LCR测试仪，可用于研发和生产线等多种不同的应用场合。240x128大型点阵LCD可同时显示两组测量专案值和测试设置参数，同时可以方便使用者看到整个画面。测量结果元器件的附加因数可同时显示，像R/Q、C/D、C/R和L/Q。LCR－821还具有更精确的电阻测量模式，可以同时测量值和相位角。100组测量条件设置记忆体使得LCR-800系列满足多种测试环境和场合。通过RS-232接口的PC软件，可以使使用者通过标准的PC显示器得到更好的视觉感受。Handler接口是LCR-826/827/829的标配接口。
LCR-817 测试仪技术参数：
| 12Hz to 10kHz (489 点) | ||
| 准确度 | ||
| 0.05% | ||
| 测试速度 | ||
| 68mS | ||
| 测试电压 | ||
| 5mV ~ 1.275V (5mV步进) | ||
| 直流偏压 | ||
| 内部 | 2V | |
| 外部 | 0 ~ 30V | |
| 显示范围 | ||
| 串/并联等效阻抗 | R 0.00001Ω ~ 99999kΩ 0.00001Ω ~ 99999kΩ | |
| 电容 | C 0.00001pF ~ 99999uF | |
| 电感 | L 0.00001mH ~ 99999H | |
| 品质因素 | Q 0.0001 ~ 9999 | |
| 损耗因素 | D 0.0001 ~ 9999 | |
| 测量模式 | ||
| R/Q, C/D, C/R, L/Q | ||
| 等效电路 | ||
| 串联/并联可切换 | ||
| 记忆体 | ||
| 100 组 | ||
| 平均 | ||
| 1 ~ 255 次 | ||
| 测量速度 | ||
| 慢, 中, 快 | ||
| 测量值显示 | ||
| 值, △%值, △值 | ||
| 显示屏 | ||
| 240 x 128 点阵C.C.F.L 背光LCD | ||
| 电源 | ||
| 100V ~ 240V, 50/60Hz | ||
| 附件 | ||
| 电源线 x 1, 操作手册 x 1, 测试治具: LCR-06A x 1 选购测试治具: LCR-05, LCR-07, LCR-08, LCR-09 | ||
| 尺寸&重量 | ||
| 330(宽) x 149(高) x 437(长)mm 约 5.5 公斤 | ||
| 测试频率 | ||
