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梅特勒MS104S,MS204S,MS304S,MS105,MS105DU,MS205DU,MS204分析天平
面议梅特勒ML54,ML104,ML204分析天平
面议梅特勒MS303S,MS303SE,MS403S,MS603S,MS1003S,MS1602S,MS1602SE,MS3002S,MS3002SE,MS4002S,MS4002SDR,MS600...
面议梅特勒MS6001S,MS8001S,MS8001SE,MS12001L,MS16001L,MS16001LE,MS32001L,MS32001LE,MS32000L,MS32000L,MS30...
面议梅特勒ZB203G-IC,ZB203G,ZB403G-IC,ZB403G专用天平
面议梅特勒ZB203C,ZB603C-IC,ZB603C,ZB1003C-IC,ZB1003C,ZB1503C-IC专用天平
面议梅特勒ZB2002G-IC,ZB2002G,ZB4002G-IC,ZB4002G专用天平
面议梅特勒JP1203C,JP105DUG,JP1603C,JP703C,JS1203C,JS1603C,JS703C,JE703CE珠宝天平
面议梅特勒ZB602G,ZB1502G,ZB6001G专用天平
面议梅特勒JL6001-G/L01,JP16001G,JP32001G,JP8001G,JS8001G天平
面议梅特勒JL1502-G/L01,JL602-G/L01,JP2002G,JP3002G,JP4002G,JP6002G,JP802G,JS2002G,JS3002G,JS4002G,JS6002...
面议梅特勒JP303G,JP503G,JS303G,JS503G,JP105DUG天平
面议LCR-827测试仪介绍:
高精度LCR测试仪 , 100Hz ~ 2kHz (245 点)
LCR-800系列是一款应用于元器件/材料测量的高级数字LCR测试仪,可用于研发和生产线等多种不同的应用场合。240x128大型点阵LCD可同时显示两组测量项目值和测试设置参数,同时可以方便使用者看到整个画面。测量结果元器件的附加因数可同时显示,像R/Q、C/D、C/R和L/Q。LCR-821还具有更精确的电阻测量模式,可以同时测量值和相位角。100组测量条件设置记忆体使得LCR-800系列满足多种测试环境和场合。通过RS-232接口的PC软件,可以使使用者通过标准的PC显示器得到更好的视觉感受。Handler接口是LCR-826/827/829的标配接口。
LCR-827测试仪技术参数:
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