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梅特勒MS104S,MS204S,MS304S,MS105,MS105DU,MS205DU,MS204分析天平
面议梅特勒ML54,ML104,ML204分析天平
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面议梅特勒JP303G,JP503G,JS303G,JS503G,JP105DUG天平
面议GUT-6000B特殊应用仪器介绍:
循环测试
自动搜寻
自我诊断
过载保护
测量1800种设备
支持54/74系列TTL
支持4000和5000系列CMOS
测试管脚:28 pin
GUT-6000B特殊应用仪器技术参数:
测试范围 | ||
| 54/74 系列 TTL | |
4000 及 4500 系列 CMOS | ||
DRIVE | ||
量测种类 | ||
| 约 1800 种 | |
测试电压 | ||
| 2.5/3.0/3.3/5V DC | |
测试时间 | ||
| 高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC | |
使用电源 | ||
| 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz | |
尺寸及重量 | ||
| 335(宽) x 105(高) x 300(长) mm |