大平台金相检测显微镜

XLE—1大平台金相检测显微镜

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2019-01-13 18:31:23
254
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产品简介

XLE-1型 大平台金相检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路，晶片的质量检测而设计开发制造的。金相检测显微镜的特点：1.放大倍数：40倍至400倍；2.超大型载物台

详细介绍

用途：
XLE-1型 大平台金相检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路，晶片的质量检测而设计开发制造的。金相检测显微镜的特点：1.放大倍数：40倍至400倍；2.超大型载物台
技术参数
1.       机械筒长 160mm
2.

物镜 
数值孔径
有效工作距离（mm）
介质
4×
0.10
17.912
干
10×
0.25
6.544
干
20×
0.40
1.05
干
40×
0.65
0.736
干

3.目镜 10× 视场直径（mm） --18
4.放大倍数 40×--400×
5.载物台面积 350mmX255mm
  纵向移动范围---200mm
  横向移动范围---200mm
6.粗微动调焦范围 25mm,微调转动一圈样品升降0.2mm,格值0.002mm
7.光源 钨卤素灯6V20W。内藏式连续调光电源
8.物镜转换器 四孔式 （三孔式）
9.目镜筒 三目镜 （双目镜）
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