XSZ-159J工业显微镜-宁波市教学仪器有限公司手机版

详细介绍

XSZ-159J工业显微镜可用于金相、矿物、晶体、微电子等方面进行观察与分析研究等，是工厂、高等院校、科研机构及电子工业部门的较好选择。采用了反射和透射两种照明形式，并配有落射偏光装置。在反射光照明下可以进行明场和偏光观察，又可在透射光照明下作明场观察。稳定、高品质的光学系统满足您高要求的成像质量，宽阔的机身更体现整体刚性，T形的外观设计为您提供了稳定的基座。人性化的设计，简便的操作将您从繁重的工作压力中解放出来，从而让您全部的精力投入实验之中。

XSZ-159J工业显微镜技术参数

技术规格			型号
			XJP-159J	XJP-159JT
观察头	30度铰链式双目头（48mm-75mm）		●
	30度铰链式三目头（48mm-75mm）			●
目镜	超大视野 WF10×/22mm		●	●
物镜	无限远平场金相物镜	5×/0.1W.D.29.4mm	●	●
		10×/0.25W.D.16mm	●	●
		20×/0.4W.D.10.6mm	●	●
		40×/0.55W.D.5.1mm	●	●
平台	双层移动平台		●	●
	平台尺寸:180mm×160mm
	移动范围：80mm×50mm
聚光镜	N.A.1.25阿贝聚光镜带可变光栏和滤色片		●	●
调焦	粗、微动同轴调焦，采用齿轮齿条传动机构微动格值0.002mm		●	●
光源	落射柯勒照明，带孔径可变光栏和视场可变光栏, 12V/30W.AC85V230V亮度可调节		●	●
	透射照明12V/30W.AC85V~230V亮度可调节		●	●
偏光装置	检偏镜可360度转动起偏镜检偏镜均可移出光路		●	●
滤色片	插板式滤色片（绿、蓝、中性）		●	●
检测工具	0.01mm测微尺		●	●
可供附件	30°铰链式正像三目观察头
	二维测量软件
	测微目镜
	130万、200万、300万、500万像素CMOS电子目镜
	摄影装置及CCD接口0.5×、0.57×、0.75×
	无限远平场金相物镜：40×/0.55W.D.5.4mm，80×/0.75W.D.4mm、100×/0.8W.D.3mm
	压平机
	彩色1/3英寸CCD 700条线

产品简介

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