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光侵入式热电制冷探测器介绍
PVI-2TE-n （n表示特性波长，单位是微米）系列光电探测器是两级的TE-制冷式红外光电探测器。用高折射率的GaAs 或 CdZnTe 半球透镜(标准)或过半球透镜（可选）进行光照入。这些器件在2～11μm范围内的任意值可以优化为高性能。他们的高性能和稳定性可以通过近开发的间隙（Hg，Cd，Zn）Te半导体优化掺杂面和改进的表面处理来获得。标准可以供货的探测器是带BaF2视窗，并采用改进的TO-8封装。其他的封装和视窗可以按需求供货。可以按客户定制器件的要求提供四象限单元、多元件阵列、特定封装、连接器视窗和光滤波器。
光侵入式热电制冷探测器参数
特性（@ 20ºC） | 单位 | LD-PVI-2TE-3 | LD-PVI-2TE-4 | LD-PVI-2TE-5 | LD-PVI-2TE-6 | LD-PVI-2TE-8 | LD-PVI-2TE-10.6 |
特性波长λop | μm | 3 | 4 | 5 | 6 | 8 | 10.6 |
探测率: at λpeak at λop | cmHz1/2/W |
≥8∙1011 ≥5.5∙1010 |
≥3∙1011 ≥2∙1011 |
≥1∙1011 ≥6∙1010 |
≥5∙1010 ≥2∙1010 |
≥4∙109 ≥2∙109 |
≥2∙109 ≥1∙109 |
响应度 | A/W | ≥0.5 | ≥1 | ≥1.3 | ≥1.5 | ≥0.8 | ≥0.4 |
响应时间τ | ns | ≤3** | ≤1** | ≤7** | ≤0.5** | ≤0.4** | ≤0.4** |
并联电阻-光学面积 | Ω·cm 2 | ≥15000 | ≥200 | ≥10 | ≥2 | ≥0.002 | ≥0.01 |
光学面积（长×宽） 或直径(圆形) | mm x mm mm | 0.2×0.2; 0.25×0.25; 0.5×0.5; 1×1; 2×2; ø0.2; ø 0.25; ø 0.5; ø 1; ø 2; ø 3 | |||||
工作温度 | K | 230 | |||||
视场, F# | deg | 36,1.62 | |||||
