快速温变试验箱六孔新版芯片研发可靠性设备
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快速温变试验箱六孔新版芯片研发可靠性设备

TEB-225PF快速温变试验箱六孔新版芯片研发可靠性设备

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-07-03 15:36:41
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东莞市皓天试验设备有限公司

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创新点

试验设备主要用于对产品按照国家标准要求或用户自定要求,在低温、高温、条件下,对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试,测试后,通过检测,来判断产品的性能,否仍然能够符合预定要求,以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。
1.科学的空气流通设计、避免任何死角、使箱内温度分布均匀,保证组件测试结果的准确性。
2.真彩触摸式可程式控制器,配备电脑连线接口,使用者可以在电脑屏幕上设计程序,收集测试资料与记录、呼叫程式执行、遥控机器开关机等功能,自动化程序高,操作简单。
3.异常状况发生时,控制器屏幕上即时自动显示故障状态,切断电脑开关,并提供故障排除方法。

产品简介

快速温变试验箱六孔新版芯片研发可靠性设备
快速温度变化试验箱适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元气件在高低温或湿热环境下检验其各性能项指标。

详细介绍

快速温变试验箱六孔新版芯片研发可靠性设备

快速温变试验(又线性/非线性快速温变试验箱),是产品在设计强度极限下,运用温度加速技巧(在上、下限极值温度内进行循环时,产品产生交替膨胀和收缩)改变外在环境应力,使产品中产生热应力和应变,透过加速应力来使潜存于产品的瑕疵浮现[潜在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工艺瑕疵],以避免该产品于使用过程中,受到环境应力的考验时而导致失效,造成不必要的损失,对于提高产品出货良率与降低返修次数有显着的效果.


温度范围:A:0~150、B:-20~150℃、C:-40~150℃、D-60~150℃、E:-70~150℃

湿度范围:20~98%RH

温度波动范围:±0.3℃(-70~+100℃)±0.5℃(+100.1~+150℃)±2.5﹪rh

温度均匀性:  TEE-150PF、225PF、408PF、600PF

           1、±1.0℃(-70~+100℃)

              ±1.5℃(+100.1~+150℃)

           TEE-800PF、1000PF

           2、±1.5℃(-70~+100℃)

              ±2.0℃(100~+150℃)

快速温变试验箱六孔新版芯片研发可靠性设备

升温时间:非线性升温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃)

         线性升温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃)

降温时间:非线性升温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃)

         线性升温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃

冷冻系统:

压缩机:法国泰康密闭式压缩机,两元式制冷系统(风冷配);比泽尔压缩机(水冷配)。

3.2冷媒:环保冷媒R404A+R23

3.3冷凝器:水冷壳管式冷凝器+冷却水塔(水冷配)

3.4蒸发器:鳍片式多段式自动负载容量调整

3.5其它附件:干燥剂,修理阀

3.6膨胀系统:容量自动控制节流降压之冷冻系统


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