产品简介
UM-3仪器利用超声波原理可以对任何超声波良导体材料厚度进行测量，如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。高分辨力测厚.可测薄件.
详细介绍
工作原理
界面波～回波方式（普通模式）
回波～回波方式（精密模式）
测量范围
1.5～20mm（普通模式）
0.15～10mm (精密模式)
单位和显示分辨率
毫米-0.001，0.01，0.1
英寸-0.0001，0.001，0.01
探头零点校准
一点校准
两点校准
示值误差
±0.005mm (3mm以下)
±0.05mm (20mm以下)
显示屏
128×64点阵液晶屏（42×57毫米）
具有EL背光，可调节对比度
厚度值数字高度可达13.75毫米
测量刷新频率
常规测量时4Hz，zui小值扫查时25Hz
材料声速范围
1000～9999m/s，0.0394～0.3937in/us
数据存储
划分5个数组，可存储500个厚度值
界面语言
中文、英文
电源
两节1.5V AA电池
当电池电量不足时，有低电压提示
操作时间
两节5号电池，使用时间可达200小时
自动关机
5分钟无操作后自动关机
工作温度
-10℃～+50℃，有特殊要求可达-20℃
尺寸
149mm×73mm×32mm (H×W×D)
重量
含电池200g
