MLCC电容器温度特性测试系统

（电容器温度特性评估系统）

电化学迁移评价系统

电化学迁移评估系统可以轻松有效地评估产品寿命和绝缘电阻，从低压测试到高压测试都有许多应用。

l 评价目标

l 印刷电路板

l 绝缘材料

l 半导体材料

容器泄漏测试系统

电容器泄漏测试系统自动评估高温和高温/高湿环境下电容器的绝缘退化特性。

l 评价目标

l 电容器

Platinous J 系列恒温试验箱

作为行业标准试验箱的一条线，Platinous系列除了可靠性、性能、可操作性和安全性外，还追求理想的、生态友好的环境试验箱的新环境标准。

型号

范围 迷你零下Compact 超低温室

Mini Subzero 支持覆盖超低温范围的较宽温度范围（-75℃/－85℃ ) to the high-85℃）至高温范围（+ 100℃/+ 180℃）。该灭菌室还提供远程监测和操作。

内部容积 (L)

特征

该系统可用于评估特定温度环境下电容器和各种材料的静电容量 (C)、损耗因子 (D) 和阻抗 (Z)。

☆ 最多64个通道的自动测量

该系统可以测量不同温度环境下的静电容量 (C)、损耗因子 (D) 和阻抗 (Z) 的多通道。

您可以选择8个通道的倍数，最多64个通道。

☆ 图形功能允许实时查看测量结果

收集的数据，包括不同温度、频率和时间下的电特性值和变化率，可以通过各种图形函数进行实时审查。

☆ 可从不同测试模式选择

温度特性评价试验、恒定运行试验和频率特性试验。

<温度特性评估测试>

在此测试模式下，自动记录特性数据，并与温度变化同步，最多40步。

<持续运行测试>

该测试模式测量以下参数的变化特定中随时间推移的特征自动记录数据。

<频率特性评价试验>

该试验模式在特定温度环境下改变频率的同时，自动记录不同频率下的特性数据。测试可与温度特性评价测试或恒定运行测试相结合。

☆ 多种可选夹具 适用于不同的试验样本（可选）

除了 SMD 组件的专用夹具外，我们还提供了根据离散设备形状定制的夹具。

应用程序

l 电容器

l 静电容量 (C)

l 损失因子 (D)

l 阻抗的温度特性 (Z)

l 频率特征

l 电子材料

l 印刷电路板

l 通量

l 绝缘材料（树脂、薄膜等）

l 介电材料（钛、陶瓷、钽、铝电解材料等）

①系统控制器

用于登记系统管理的计算机和监视器测试条件，检查工作 状态，并进行数据处理。

②不间断电源

系统控制器的备用电源。

③ RS-232C

操作员控制并监测来自系统控制器的环境测试系统。

④ 扫描装置

该装置测量静电容量 (C)、损耗因子(D) 和带有测量电缆前沿的标准8通道的阻抗 (Z)。

您可以将每台器械的通道数增加到64个，增量为8个通道。

⑤ 测量电缆

由聚四氟乙烯制成的同轴电缆连接到样品或试验系统内部夹具。

⑥ 继电器单元

该装置将测量电缆连接到样本上或测试系统内部夹具至扫描仪装置。继电器单元使连接变得容易。

⑦ 样品连接夹具（可选）

用于连接 SMD 组件或离散设备的卡扣式夹具。

⑧ LCR仪表

该仪表测量静电容量 (C)、损耗因子 (D)、和阻抗(Z)。

⑨ 绝缘电阻测试仪（选配）

该测试人员测量绝缘电阻。您可以将每台器械的通道数增加到64个，增量为8个通道。

⑩RS-485（可选）

从环境测试系统选项菜单，RS-485可将通信选作系统控制器和环境测试系统的通信协议。

MLCC电容器温度特性测试系统