华测 品牌
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高压极化/极化装置/薄膜材料
¥50000华测 HCDZ-200多功能电阻测试系统/测试仪器
¥40000变温铁电测试盒/铁电分析仪电滞回线
¥170000华测功能复合材料电学综合测试系统
¥150000华测HCAM-2KV压电驱动器 功率放大器
¥10000压电薄膜PVDF 高压极化装置
¥100000华测压电陶瓷高压极化装置(多通道)
¥50000华测压电材料测试多通道高压极化装置
¥4500华测压电陶瓷多通道高压极化装置
¥45000高压功率放大器/压电驱动器
¥80000压电薄膜铁电分析仪搭载变温铁电测试盒
¥15000华测HC系列多功能材料电学综合测试系统
¥300000一、概述
高低温介电温谱仪,HCWP-S系列高低温材料介电参数测量系统是我司开发全系列宽频、宽温区材料介电参数测量仪(介电温谱仪)公司开发的高低温阻抗、介电测量系统软件将高温测试平台,高温测试夹具与WK6500系列、Agilent(Keysight)4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron1260LCR测量设备无缝连接,实现了自动完成高温环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外,还可以硌脚用户提供的其他LCR品牌或型号完成定制需求。软件可根据实验方案设计,通过测量C和D值,自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。
二、主要用途
高低温介电温谱仪用于分析宽频、高低温条件下被测样品的介电系数、阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量,得到这些变化曲线的频率谱、温度谱、介电谱曲线。可广泛应用于铁电压电陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。
三、系统参数
温度范围 | -160℃-450℃ |
控温精度 | ±1℃ |
控温方式 | 连续升温和分段升温 |
测量精度 | 0.1℃ |
升温斜率 | 0-10℃min(典型值3℃min) |
控温方式 | PID精确控温 |
显示控制 | 彩色触摸屏 |
数据接口 | USB接口 |
冷却方式 | 水冷 |
降温斜率 | 0-1℃/mim(典型值3℃/min) |
四、测量参数
频率范围 | 20Hz-30MHz |
测量精度 | 0.05% |
测量原理 | 平行板电容器原理 |
测温精度 | ±1℃ |
供电 | 220V±10%,50Hz |
工作环境 | 0℃-55℃ |
样品尺寸 | φ≤15min,d=3mm |
测量方式 | 2线-4线测量 |
电极材料 | 铂金 |
仪器尺寸 | 650×500×550 |
五、产品特点
1)高温介电温谱仪-高温介电测量系统
2)测量精度高,控温,测量频率宽,抗交流干扰;
3)介电软件功能,拥有测量系统;
4)直接得出介电常数实部和虚部的比值曲线;
5)直接得出复阻抗实部和虚部比值曲线的Cole-Cole图;
6)直接得出机械品质因数Qm;
7)集方案、测量、分析、数字化显示于一体集成化设计;
8)触摸屏操作,美观设计,外观与智能共存;
9)设计电极系统,重复性好,稳定性高;
10)高温、宽频下测量材料的介电性能;
11)一次只能测量一个样品,测量度高;
12)高温介电测量系统与安捷伦、稳科阻抗产品兼容;
13)多种温度选型,软件升级。
六、软件功能
HC5000系列测试系统的软件平台hacepro,采用labview系统开发,符合导体、半导体材料的各项测试需求。具备稳定性与安全性,并具备断电资料的保存功能,图像资料可保存恢复,兼容XP、win7、win10系统。
友善的使用界面:
多语界面:支持中文/英文两种语言界面
即时监控:系统测试状态即时浏览,无需等待
图例管理:通过软件中的状态图示,一目了然,了解测试状态
使用权限:可设定使用者的权限方便管理
故障状态:软件具有设备故障的报警功能
七、硬件支持
集成Inter@Celeron1037U1.8GHZ双核处理器
集成打印接口,可扩充8个USB即可
可支持16G内存,60G固态硬盘,让系统运行流畅
八、系统配置要求
1)电磁铁:磁场间距可变;能提供工作稳定性。
2)电磁铁电源:具有直流与交流电流模式;要采用真正的双极四相限电源,提供平滑
的零磁场转换功能和断水断电保护功能;要求为水冷模式,减少测试噪音,冷却效果充
分,确保电子器件的有效散热,设备稳定性好,寿命长。
3)高的精度测试仪表,配套的机柜、安装支架和电缆。
4)安装系统软件的计算机一套