PCT高温高压老化试验箱

SETH-SPCT高温高压老化试验箱

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-02-16 18:08:17
421
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东莞市赛思检测设备有限公司

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产品简介

PCT高温高压老化试验箱​主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。 PCTZ主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体。

详细介绍

PCT高温高压老化试验箱 用 途:

HAST高压加速老化试验机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。 PCTzui主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体。

PCT高温高压老化试验箱 特 点:

◆ 真空泵浦设计(锅炉内空气抽出)提高压力稳定性、再现性;

◆ 超*实验运转时间,长时间实验机台运转300小时;

◆ tank干燥设计,试验终止采真空干燥设计确保测试区(待测品)的干燥;

◆ 水位保护,透过炉内水位Sensor检知保护;

◆ tank耐压设计,箱体耐压力(140℃)2.65kg,符合水压测试6k;

◆ 二段式压力安全保护装置,采两段式结合控制器与机械式压力保护装置;

◆ 安全保护排压钮,警急安全装置二段式自动排压钮;

 技术规格:

Models

SEST-S

Inside Dimensions
W x D x H cm

φ22 X 33(L)

Outside Dimensions
W x D x H cm

69X90X63

Inside capacity(Liter)

12

Internal material

Stainless steel#316

External material

SECC

Temperature range105℃~132℃
Humidity Range75%~*/105℃~132℃

Temperature uniformity ℃

±1.0℃

Humidity uniformity %RH

±5%
Temperature stability ℃±0.3℃
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