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牛津CMI900镀层测厚仪描述:
CMI900 是一款性价比*的台式 X 射线荧光光谱仪,应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。
ˇ快速精确的分析:
正比计数探测器和50瓦微焦X射线管,大大提高了灵敏度
ˇ简单的元素区分:
二次光束过滤器可以分离重叠元素
ˇ性能优化,测量元素范围广:
可预设参数,CMI900 提供800多种预设应用参数/方法
ˇ杰出的*稳定性:
自动热补偿测量仪器温度,纠正变化,提供稳定的结果
简单快速的光谱校准,定期检查仪器性能(如灵敏度),并提供必要的纠正
ˇ坚固耐用的设计:
可以在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计
牛津CMI900镀层测厚仪应用范围:
ˇ电子行业 - 有效控制生产过程,提高生产力
分析电子件上的金和钯的厚度,例如Au/Ni/Cu,Au/Pd/Ni/Cu
测量线路板上的可焊性,比如Ag/Cu/Epoxy
ˇ五金电镀行业 - 电镀表面处理的成本zui小化,产量zui大化
多样品和多点分析
单层或多层厚度测量
镀液成份分析
ˇ贵金属/金属合金 - 珠宝及其他合金的快速无损分析
黄金分析及其他元素测定
贵金属合金检测
ˇ新能源行业 - 确保产品有效*
光电池薄膜吸收层(如CIS, CIGS, CdTe)的成份分析
通过镀层厚度分析优化导电性
牛津技术参数:
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选
装备有安全防射线光闸
二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统 zui多可同时装配6种规格的准直器
多种规格尺寸准直器任选:
-圆形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,zui小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
在12.7mm聚焦距离时,zui大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
样品室
-样品室结构 开槽式样品室
-zui大样品台尺寸 610mm x 610mm
-XY轴程控移动范围 标准:152.4 x 177.8mm
还有5种规格任选
-Z轴程控移动高度 43.18mm
-XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
-样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。(50倍和100倍观察系统任选。)
激光自动对焦功能
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置 IBM计算机
惠普或爱普生或佳能彩色喷墨打印机
分析应用软件 操作系统:WindowsXP(OEM)中文平台
分析软件包: SmartLink FP软件包
-测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用。
-基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类: 镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围:Ti22 – U92
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
贵金属检测,如Au karat评价
材料和合金元素分析,
材料鉴别和分类检测
液体样品分析,如镀液中的金属元素含量
多达4个样品的光谱同时显示和比较
元素光谱定性分析
-调整和校正功能 系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移
-测量自动化功能 鼠标激活测量模式:“Point and Shoot”
多点自动测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复测量模式
测量位置预览功能
激光对焦和自动对焦功能
-样品台程控功能 设定测量点
连续多点测量
测量位置预览
-统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、
数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
数据分组、X-bar/R图表、直方图
数据库存储功能
任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
-系统安全监测功能 Z轴保护传感器
样品室门开闭传感器