一、武汉智能卡高低温冲击试验箱用途：

冷热冲击试验箱用途：电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具.

二、特点：

1.采用国际通行的蓄能方式进行冷热温度的冲击试验

2.触控式彩色液晶显示人机界面控制器，操作简易

3.图形功能显示，有异常或故障显示及排除方法说明

4.温度控制精度高，全部采用PID自动演算控制

5. 风量分布均匀，保证测试暴露均匀

6.具有预约启动功能，可选择冲电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件击方式（先冲高温或先冲低温）

7. 可设定循环次数及自动除霜

可选配件：

1. 温度记录仪

2.冷却水塔、水管及水泵

三、武汉智能卡高低温冲击试验箱执行与满足标准    
1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；     
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；     
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；     
4、GJB150.5-86温度冲击试验；     
5、GJB360.7-87温度冲击试验；     
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。     
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式      
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式      
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化      
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则      
11、GB/T 2423.22-2002温度变化      
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则    
13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估

四、三箱式和二箱式的选购：

1、箱：有常温停留阶段，因控制原理不同，高低温及常温停留阶段类似正弦函数的曲线。

2、功能：三个箱体，高温箱体、放置样品的箱体及低温箱体，测试高温时，高温箱门打开，低温箱门关闭。测试低温时，高温箱门关闭，低温箱门打开；有室温状态，便于取放样品；产品不移动，减少产品移动对产品造成的影响，可以接一些敏感电信号监测线；转换时间比较长。

3、两箱：没有常温停留阶段，只有高温及低温停留，高低温停留阶段初期有明显的过冲现象。

4、功能：两个箱体，高温箱体和低温箱体，中间是吊篮。测试时样品放在吊篮里，做高温测试时吊篮提到高温箱，反之做低温试验。因样品快速放入预先降温的低温室或预先加热的高温室，因此变12胚。温速度快；结构紧凑，一般容积较小；转换时间短，试验时产品需要移动；可作为热冲击箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用。

五、技术规格：