一.CDW系列低温仪简介：

用于低温冲击试验时冷却试样，无需干冰或液氮，制冷速度快，控温精度高低温冲击试验是一项很重要的试验，特别是试验温度处于被试材料的脆性转变温度区域内，试验温度的较小变化都会引起试验数据的巨大变化、陡跳，这样往往会使合格的材料变成不合格，反之亦然。 目前国内理化试验室的低温冲击试验，主要采用干冰或液态加酒精，这种zui原始方法非常麻烦危险，且控温精度低，因为普通温度计误差很大，从而导致试验温度偏差很大，同时由于没有搅拌机构而使整个温度场内的不均匀梯度很大。另外，这有少量试验室采用半导体制冷槽，但这种低温装置极易损坏且不实用，主要原因是必须提供足量且不间断的冷却水，其次是半导体硅堆极易损坏，且降温速度还很慢.为此，经过我们多年的研制，现向您提供一种全新的制冷方式---复叠式压缩机制冷低温仪。其zui大优点是操作简便安全、快速可靠、自动恒温，制冷时只需电源而不需干冰和液氮，制冷速度快、容积大、控温精度高。

二.技术参数\型号 CDW-30型
  1.  温度范围(℃) +30 ︿-35
  2.  降温速度(℃) +30︿-0 约1.2°C/min
      (平均) 0°C--20°C 约0.8°C/min
      -20 ︿-35 约0.5°C/min
  3.  控温精度(℃) <±0.5
  4.  有效空间 120×120×80mm(长×宽×高)
  5.  可装试样数量大于60个,zui多可达120个标准试样
  6.  数显温度表 3 1/2位,分辨率0.1 °C
  7.  数显计时器 1秒--100分钟,分辨率1秒
  8.  冷却介质 乙醇或其它不冻液
  9.  zui大外形尺寸 800× 510× 480mm工作面高350mm(长×宽×高)
  10. 工作电源 220V︿240V 1.0kw
  11. 自 量 约50kg

三.技术参数\型号 CDW-60型

1.温度范围(℃) +30︿-60
  降温速度(℃) +30︿ 0 约1.5°C/min
  (平均) 0︿-20 约1.2°C/min
  -20︿-40 约1.0°C/min
2.控温精度(℃) <±0.5
3.有效空间 120×120×80mm(长×宽×高)
4.可装试样数量 大于60个,zui多可达120个标准试样
5.数显温度表 3 1/2位,分辨率0.1 °C
6.数显计时器 1秒--100分钟,分辨率1秒
7.冷却介质 乙醇或其它不冻液
8.zui大外形尺寸 800× 510×750mm工作面高350mm(长×宽×高)
9.工作电源 220V︿240V 1.5kw
10.自 量 约80kg。