涂层厚度测量显微镜

涂层厚度测量显微镜

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具体成交价以合同协议为准
2022-06-29 12:35:26
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安徽华标检测仪器有限公司

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产品简介

测试应用及原理HY6462涂层厚度测量显微镜系统采用了当今*的光学显微镜与现代成像测量融为一体的图像测量技术,实现了一键测量、一键保存

详细介绍

 

测试应用及原理

HY6462涂层厚度测量显微镜系统采用了当今*的光学显微镜与现代成像测量融为一体的图像测量技术,实现了一键测量、一键保存。*取代手工测量繁琐过程。

 

测试标准

1GB/T 12334-2001/ISO 2064-1996金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则

2GB/T 6462-2005/ISO 1463:2003金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法国家标准 


 

产品特点

采用*的光学显微镜与现代成像测量融为一体的图像测量技术;
摄像系统配置了专业高清晰数字摄像头,图像清晰,测量精确;

配套专业的测试软件,主要功能有:
1、动态图像灰度值定标(可保证拍摄图像明暗程度的一致性和连贯性),动态图像在线式动态测量工具(二维几何学长度、角度等)
2
、动态定标尺(BAR)实时显示功能(颜色、位置大小可设置)
3
、全景图像拼接(非常适合大标本的全景拍摄)
4
、动态图像实时手动景深扩展EDF
5
、动态显示刻线、网格、虚拟计数池、水印模版功能
6
、图像采集 单帧临时冻结、单帧捕获、静态全副捕获、超长时间曝光捕获、定时拍照、间隔拍照
7
、图像测量 图层技术可保证原始图像不被破坏的情况下进行各种二维测量:点坐标、直线距离、角度、弧度、圆形面积、椭圆面积、周长、半径、直径、矩形面积、矩形周长、同心圆、平行线、垂直线、任意多边形周长、任意多边形面积
8
、计数功能:约束面积范围、约束周长范围、约束灰度范围。


 

技术参数

仪器型号

HY6462

光学显微镜

三目金相显微镜

平场目镜

大视野WF10XΦ18mm

长距平场物镜

PLL 5X/0.1010X/0.2540X/0.6560X/0.75

总放大倍数

50X~600X

观察头

三目 铰链式30°倾斜(内置检偏振片,可进行切换)

转换器

四孔(内向式滚珠内定位)

粗微调焦范围

粗微动同轴调焦, 粗动松紧可调,带锁紧和限位装置板,微动格值:2μm

载物台

双层机械移动式(尺寸:160mmX140mm,移动范围:75mmX50mm)

聚光镜

N.A.1.25 可上下升降 带可变光栏

照明

透射照明:6V20W卤素灯,亮度可调  
 
落射照明器:6V20W,带视场、孔径光栏,起偏振片,(,,绿磨砂)滤色片

摄像头

500万像素专业高清数字摄像头,含图像测量软件

标尺

1mm

主机尺寸

210×450×550mm

主机重量

10kg


 

产品配置

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