X光测厚仪标准片

MicropioneerXRF-2000:韩国微先锋

韩国测厚仪标准片,校准片,校正块

韩国XRF-2000测厚仪标准片

X光镀层测厚仪标准片,X-RAY膜厚仪校正片,膜厚仪标准块

标准片或校正片铜，镍，铬，锌，金，银，锡，锌镍，钯各种厚度及规格均可订制，校准片均附带证书、适合各种X射线镀层测厚仪

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。以此标准曲线来测量镀层样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 

X光镀层测厚仪标准片,X-RAY膜厚仪校正片,膜厚仪标准块

标准片或校正片铜，镍，铬，锌，金，银，锡，锌镍，钯各种厚度及规格均可订制，校准片均附带证书

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韩国Micro Pioneer 先锋XRF-2020测厚仪

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金等

合金镀层:如铁上镀锡铜等

MicropioneerXRF-2020电镀测厚仪

测厚仪标准片,校准片,校正块​