韩国XRF-2000X射线膜厚仪测量精度,X射线膜厚仪检测范围

Au  0.03-4um

Pd  0.03-4um

Ni  0.05-20um

Ni-P 0.05-20um

Sn 0.05-80um

Ag  0.03-20um

Cr  0.05-20um

Zn  0.05-20um

ZnNi 0.05-20um

SnCu 0.05-20um

设备功能描述

韩国XRF-2000X射线膜厚仪测量精度,X射线膜厚仪

兼容Microsoft Windows 操作系统

使用X荧光射线非接触非破坏快速测量膜厚层

各种样品单层至多层（5层），合金膜层均可测量

定点自动定位分析

光径对准全自动

影像重叠功能

自动显示测量参数

彩色区别测量数据

多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D，任意位置测量控制Y轴全自动控制雷射对焦与自动定位系统

多种机型选择X-ray运行待命（睡眠）控制温控稳定延长校准时效全进口美日系零件价格优势及快速的服务时效

,X射线膜厚仪 

Micro XRF-2000 韩国先锋镀层测厚仪系列

测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

测量的厚度范围为0.03微米～35微米。

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料。

XRF-2000镀层测厚仪三款型号

不同型号各种功能相同

机箱容纳样品大小有以下不同要求

XRF-2000H型:测量样品高度不超过10cm  (长宽55cm)

XRF-2000L型:测量样品高度不超过3cm   （长宽55cm）

XRF-2000PCB型:测量样品高度不超3cm,PCB板

XRF-2000可測六层.误差大约如下:*层(5%).第二层(8%).第三层(12%).第四层(20%).第五层(25%).第六层为底材.误差视乎不同原素不同厚度有所不同。

韩国XRF-2000X射线膜厚仪精度