X射线测厚仪韩国XRF2000型号

X射线测厚仪韩国XRF2000型号

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2019-12-31 14:51:29
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深圳市精诚仪器仪表有限公司

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产品简介

X射线测厚仪韩国XRF2000型号
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.03-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
韩国先锋X射线测厚仪全自动台面,自动雷射对焦,操作非常方便简单

详细介绍

X射线测厚仪韩国XRF2000型号


检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.03-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度

X-RAY膜厚仪

 

原产地:韩国

品牌:Micropioneer微先锋

货号:XRF-2020

 

应用:电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等​合金镀层:

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

XRF-2020三款机型均为全自动台面,自动雷射对焦。

 

韩国MicroPioneerXRF-2020测试范围   

 

镀金: 0.03-6um

镀钯: 0.03-6um

镀镍: 0.5-30um

镀锡: 0.3-50um

镀银: 0.1-50um

镀铬: 0.5-30um

镀锌: 0.5-30um

镀锌镍合金: 0.5-30um

Micro PioneerXRF-2020测厚仪​精度

 

表层:±5%以内

第二层:±8%以内

第三层:±15%以内

 

韩国MicroPioneer

微先锋XRF-2020X-RAY膜厚仪​

 

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等,不限底材。

如单镀层铜上镀银,铜上镀镍,铜上镀锌,铜上镀锡,铁上镀镍等

双镀层如铜上镀镍镀金,铁上镀铜镀镍,铜上镀镍镀银等,不限底材

多镀层如:ABS上镀铜镀镍镀铬,铁上镀铜镀镍镀金等,不限底材

合金镀层如:铁上镀锌镍等。不限底材

 

韩国MicroPioneer金属镀层测厚仪

标牌:Micro Pioneer  微先锋

货号:XRF-2020H,XRF-2020L,XRF-PCB三款

 

XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm

XRF-2020H型 测量样品长宽55cm,高12cm

X射线测厚仪韩国XRF2000型号

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